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Búsqueda : DIAZ PATTERSON, DAYANIS [Autor]
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 Díaz Patterson, Dayanís and Silega Martínez, Nemury Enfoque ontológico para el análisis de estándares de calidad del proceso de software.. Rev cuba cienc informat, Set 2021, vol.15, no.3, p.136-152. ISSN 2227-1899

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