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Pesquisa : VAZQUEZ, DIEGO [Autor]
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 González Ríos, Jorge L. et al. Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido. EAC, Abr 2016, vol.37, no.1, p.1-8. ISSN 1815-5928

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 González Ríos, Jorge Luís, Luiz Moreno, Robson and Vázquez, Diego Límites impuestos por los elementos pasivos en el diseño de amplificadores de bajo ruido en tecnología CMOS. EAC, Dic 2015, vol.36, no.3, p.1-12. ISSN 1815-5928

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