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Anales de la Academia de Ciencias de Cuba
versão On-line ISSN 2304-0106

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INFANTE ABREU, Marta Beatriz et al. Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos y sus aplicaciones. Anales de la ACC [online]. 2022, vol.12, n.1  Epub 11-Abr-2022. ISSN 2304-0106.