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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Determinación de tensiones por rayos x del acero AISI 1045 deformado por rodillo]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The objective of the paper is to carry out the analysis from the tensions to steel samples AISI 1045 hardened cold for roller. With employment of the method of Willianson-Hall was determined the macro and micro deformations; the reticular deformation of the net parameter; the size of the crystallites; the efforts in the crystalline net and the reduction of the size average of the grains, what allowed to establish the mechanisms of hardening of the steel AISI 1045, deformed by rolling. They were measured and analyzed different points keeping in mind the indexes of Miller for the phase ferrite of the steel. The obtained lineal models, they are statistically significant that they show a growing tendency of the mechanical estates and metallurgical, as the independent variables of the experimentation process are increased.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><font size="2" face="Verdana"> <b>ART&Iacute;CULO ORIGINAL</b></font></p>     <p>&nbsp; </p>     <P><b><font size="4" face="Verdana">Determinaci&oacute;n de tensiones por rayos    x del acero AISI 1045 deformado por rodillo </font></b>      <p>&nbsp;</p>     <P><b><font size="3" face="Verdana">Determination of stress for x-ray of the steel AISI 1045 deformed for roller</font></b>     <p>&nbsp;</p>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Tom&aacute;s Fern&aacute;ndez-Columbi&eacute;<sup>I</sup>, Isnel Rodr&iacute;guez-Gonz&aacute;lez<sup>I</sup>, Rafael Quintana-Puchol<sup>II</sup>, </b></font>   <b><font size="2" face="Verdana">Asdr&uacute;bal Garc&iacute;a-Dom&iacute;nguez<sup>III</sup></font></b><font size="2" face="Verdana"><sup></sup> </font>     <P><font size="2" face="Verdana">I Instituto Superior Minero Metal&uacute;rgico. Departamento Mec&aacute;nica. Moa. Cuba    <br> II Universidad Central Marta Abreu de Las Villas. Centro de Estudio de Soldadura. Santa    Clara. Cuba    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>   III Universidad de Camag&uuml;ey. Departamento de Mec&aacute;nica. Camag&uuml;ey. Cuba</font>     <p>&nbsp;</p>     <p>&nbsp;</p> <hr/>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>RESUMEN</b></font>     <P><font size="2" face="Verdana">El objetivo del trabajo es realizar el an&aacute;lisis de las tensiones a muestras de acero AISI    1045 endurecidas en fr&iacute;o por rodillo. Con empleo del m&eacute;todo de <i>Willianson-Hall</i>  se determin&oacute;    las macro y microdeformaciones; la deformaci&oacute;n reticular del par&aacute;metro de red; el tama&ntilde;o de    las cristalitas; los esfuerzos en la red cristalina y la reducci&oacute;n del tama&ntilde;o promedio de los granos,    lo que permiti&oacute; establecer los mecanismos de endurecimiento del acero AISI 1045, deformado    por rodadura. Fueron medidos y analizados diferentes puntos teniendo en cuenta los &iacute;ndices    de <i>Miller</i> para la fase ferr&iacute;tica del acero. Los modelos lineales obtenidos, son    estad&iacute;sticamente significativos, que muestran una tendencia creciente de las propiedades mec&aacute;nicas y    metal&uacute;rgicas, seg&uacute;n se incrementan las variables independientes del proceso de experimentaci&oacute;n. </font>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Palabras claves</b>: rodillo, rodadura, deformaci&oacute;n pl&aacute;stica. </font> <hr/>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>ABSTRACT</b></font>     <P><font size="2" face="Verdana">The objective of the paper is to carry out the analysis from the tensions to steel samples    AISI 1045 hardened cold for roller. With employment of the method of Willianson-Hall    was determined the macro and micro deformations; the reticular deformation of the net    parameter; the size of the crystallites; the efforts in the crystalline net and the reduction of the size    average of the grains, what allowed to establish the mechanisms of hardening of the steel AISI    1045, deformed by rolling. They were measured and analyzed different points keeping in mind    the indexes of Miller for the phase ferrite of the steel. The obtained lineal models, they    are statistically significant that they show a growing tendency of the mechanical estates    and metallurgical, as the independent variables of the experimentation process are increased.   </font>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Key words</b>: roller, rolling, plastic deformation.</font> <hr/>     <p>&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>     <P><font size="3" face="Verdana"><b>INTRODUCCI&Oacute;N</b></font>      <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana">El trabajo tiene como objetivo establecer el mecanismo de endurecimiento del acero AISI  1045 deformado en fr&iacute;o por el m&eacute;todo de rodadura, que luego de aplicar diferentes fuerzas, avance  y n&uacute;mero de revoluciones se ha deformado la estructura cristalina provocando irregularidades  y defectos, estas imperfecciones se pueden clasificar como defectos puntuales y defectos  lineales afinando el tama&ntilde;o del grano. El afino del tama&ntilde;o de grano es el &uacute;nico mecanismo que  permite mejorar al mismo tiempo las propiedades de tenacidad y resistencia, y es por tanto un factor  de vital importancia en la consecuci&oacute;n de elevados grados de endurecimiento. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Plantea [4] que en un material ferromagn&eacute;tico isotr&oacute;pico no tensionado, la generaci&oacute;n de  un campo de tensiones mec&aacute;nicas provoca la aparici&oacute;n de una anisotrop&iacute;a en su  permeabilidad magn&eacute;tica, conservando los mismos ejes principales del tensor de tensiones, siendo la  diferencia de sus valores principales con respecto al valor del estado no tensionado proporcional al valor  de la tensi&oacute;n aplicada. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Seg&uacute;n [12] la influencia de la deformaci&oacute;n pl&aacute;stica en las propiedades magn&eacute;ticas de una muestra se atribuye a dos mecanismos: </font> <ul type="square" compact>       <li><font size="2" face="Verdana">el incremento en el n&uacute;mero de defectos microestructural por los defectos del      enrejado producto de la dislocaci&oacute;n, </font>   </li>       <li><font size="2" face="Verdana">la formaci&oacute;n de una textura cristalogr&aacute;fica con el desarrollo de un nuevo eje, f&aacute;cil en      la magnetizaci&oacute;n cuando ocurren altos niveles de deformaci&oacute;n (superior al 10 %). </font>   </li>     </ul>     <P><font size="2" face="Verdana">Los diagramas de difracci&oacute;n permiten solamente obtener una estimaci&oacute;n de las  tensiones residuales, debido a que s&oacute;lo se pueden analizar los planos cristalinos difractantes paralelos a  la superficie de la capa endurecida. Para efectuar una descripci&oacute;n completa de las  tensiones residuales, se requiere entonces analizar tambi&eacute;n los planos difractantes no paralelos a la  superficie de la muestra. Para ello se miden por rayos X los desplazamientos en el &aacute;ngulo de  difracci&oacute;n 2Î¸ para distintas orientaciones en un &aacute;ngulo Ïˆ, que forma la normal a los planos con la normal  a la muestra. Luego, suponiendo un estado biaxial de tensiones y conociendo las constantes  el&aacute;sticas del material, se determinan las tensiones por el conocido m&eacute;todo del sin<sup>2</sup>Ïˆ [9]. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">En [8] se plantea que este m&eacute;todo &uacute;nicamente puede usarse en capas policristalinas y no funciona correctamente cuando existen gradientes de tensiones o tensiones tangenciales, que invalidan las aproximaciones realizadas si en lugar de obtener una recta se obtiene una curva con oscilaciones quiere decir que la capa est&aacute; texturada, por lo que al variar Ïˆ se hacen patentes las anisotrop&iacute;as en el plano.</font>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="3" face="Verdana"><b>M&Eacute;TODOS Y MATERIALES </b></font>      <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Dise&ntilde;o de experimento</b> </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La programaci&oacute;n se realiz&oacute; en lenguaje C de la ANSI, haciendo uso de las ampliaciones realizadas por <i>Archimedes Software</i> al standard de la organizaci&oacute;n. El c&oacute;digo ejecutable generado  por el enlazador fue situado en el hardware apropiado mediante el emulador de &quot;<i>eprom MicroMaster</i>&quot; LV de la firma inglesa ICETech [5]. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Se analizaron nueve muestras, a las cuales se le aplic&oacute; un proceso de endurecimiento  superficial por rodillo simple en la superficie. Los par&aacute;metros que se emplearon fueron: fuerza (P) de 500;  1 500 y 2 500 N, avance (S) de 0,075; 0,125 y 0,25 mm/rev y n&uacute;mero de revoluciones de 27; 54  y 110 rev/min [7]. Las muestras son cilindros de 30 mm di&aacute;metro y 70 mm largo. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La matriz de planificaci&oacute;n del experimento aparece reflejada en la <a href="#t1">tabla 1</a>. </font>     <P align="center"><a name="t1" id="t1"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/t0103112.gif" alt="Tabla 1. Matriz de planificaciÃ³n del experimento" width="334" height="349" />      <P><font size="2" face="Verdana">Para analizar las tensiones residuales de primer g&eacute;nero fue empleado el m&eacute;todo  magnetoel&aacute;stico, basado en la medici&oacute;n de la anisotrop&iacute;a de la magnetizaci&oacute;n [14] y el m&eacute;todo de difracci&oacute;n de rayos X [10], que se fundamenta en la medici&oacute;n de la variaci&oacute;n de las distancias entre los  planos cristalinos del material debido a la existencia de tensiones, las cuales deforman uniformemente  a muchos cristales en la superficie. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana"><b>M&eacute;todo Magnetoel&aacute;stico</b> </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Fue analizada la influencia de la curvatura de la barra sobre las indicaciones del  par&aacute;metro magnetoel&aacute;stico, teni&eacute;ndose en cuenta cuatro superficies de medici&oacute;n: cil&iacute;ndrica no tratada con rodadura (CN), cil&iacute;ndrica tratada (CT), tapa no tratada (TN) y tapa tratada (TT). Se realizaron seis determinaciones de tensiones residuales mediante el medidor a cada probeta. Los puntos de mediciones y sistemas de referencia para describir el tensor de tensiones fueron: </font>     <P><font size="2" face="Verdana">En cada probeta se midieron un total de seis puntos, P: - 1 en TN, P = TN, situado en su centro.  </font>     <P><font size="2" face="Verdana">- 1 en TT, P = TT, situado en su centro.  </font>     <P><font size="2" face="Verdana">- 2 en CN, P = CNÎ± Î± = 1, 2, situados en posiciones diametralmente opuestas.  </font>     <P><font size="2" face="Verdana">- 2 en CT, P = CTÎ± Î± = 1, 2, situados en posiciones diametralmente opuestas. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Se adopt&oacute; la triada de vectores unitarios    <img src="/img/revistas/im/v15n1/eer03112.gif" width="68" height="22" align="absbottom" />del    sistema de coordenadas cil&iacute;ndricas como el sistema de referencia asociado    a cada uno de los cuatro puntos de medici&oacute;n situados en las zonas CN    y en CT. El tensor de tensiones residuales Ïƒ (P) en los puntos P = CNÎ±, CTÎ±,    Î± = 1,2 cumple con la relaci&oacute;n </font> <font size="2" face="Verdana">Ïƒ    (â„®<sub>r</sub>) = 0.</font>      <P><font size="2" face="Verdana">La calibraci&oacute;n de la permeabilidad magn&eacute;tica vs tensi&oacute;n se efectu&oacute; mediante la obtenci&oacute;n del coeficiente de calibraci&oacute;n T. Para ello se realiz&oacute; un ensayo de tracci&oacute;n de una barra no sometida a rodadura, a la cual se le aplic&oacute; un tratamiento t&eacute;rmico alivio de tensiones a 650 &#186;C, durante 2 horas, la carga se aument&oacute; discretamente de 0 a 120 kN, de acuerdo a la metodolog&iacute;a indicada  en [6]. </font>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>M&eacute;todo difractom&eacute;trico</b> </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La superficie analizada es cil&iacute;ndrica. Las barras fueron seccionadas para obtener una muestra de 1,5 cm de longitud de la secci&oacute;n y un cuarto de la secci&oacute;n transversal que fue sometida a  limpieza con disolventes org&aacute;nicos y limpieza qu&iacute;mica. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">El an&aacute;lisis por difracci&oacute;n de rayos X fue realizado en un difract&oacute;metro de goni&oacute;metro horizontal (configuraci&oacute;n Î©), radiaci&oacute;n KÎ±Co filtrada y detector de centelleo. Se realiz&oacute; la medici&oacute;n de la tensi&oacute;n residual ?zz en la direcci&oacute;n del eje de la barra Ïƒ<sub>ZZ</sub> en la zona sometida a rodadura,  aplic&aacute;ndose el m&eacute;todo de sen<sup>2</sup>Ïˆ [6] y [10], que se fundamenta en la medici&oacute;n de la posici&oacute;n de  la l&iacute;nea de difracci&oacute;n (hkl) a medida que se var&iacute;a el &aacute;ngulo Ïˆ entre la normal a la superficie  del material y la normal a la familia de planos (hkl) difractantes. La l&iacute;nea seleccionada fue la  correspondiente a los planos (211) de la fase ferr&iacute;tica del acero. En calidad de </font> <font size="2" face="Verdana">referencia de muestra sin macrotensiones se seleccion&oacute; polvo de hierro. La <a href="#f1">figura 1</a> muestra la representaci&oacute;n esquem&aacute;tica de los &aacute;ngulos del sistema de la muestra.</font>     <P align="center"><a name="f1" id="f1"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/f0103112.gif" alt="Fig. 1. RepresentaciÃ³n esquemÃ¡tica del principio teÃ³rico-prÃ¡ctico de la mediciÃ³n de las tensiones residuales por DRX. a) (b) (la muestra se rota un Ã¡ngulo conocido). D, detector de rayos X; S, fuente de rayos X; N, normal a la superficie. Fuente [15] " width="486" height="246" />      <P><font size="2" face="Verdana"><b>Evaluaci&oacute;n de microdeformaciones</b> </font>      <P><font size="2" face="Verdana">Se aplic&oacute; el m&eacute;todo convencional de Williamson-Hall [8-15], emple&aacute;ndose las l&iacute;neas  (110), (200) y (211) de la fase ferr&iacute;tica. En calidad de referencia para obtener los semianchos de  l&iacute;nea instrumentales se emple&oacute; una barra libre de tensiones. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">De acuerdo con la ley de <i>Bragg</i> [13], la profundidad de penetraci&oacute;n de las ondas  Î» en la  sub-superficie de material de la muestra depende, del tipo de material analizado y del &aacute;ngulo  de incidencia de la cara de la muestra y esta medida es siempre pr&oacute;xima a la superficie de la  muestra. La longitud de onda de incidencia utilizada en el ensayo, fijada en este caso en el valor  de 1,54065 &Aring; (antic&aacute;todo de cobre), fue constante en todo el estudio. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">El c&aacute;lculo de 2Î¸ para cada l&iacute;nea de la difracci&oacute;n viene dado por la <a href="#e1">ecuaci&oacute;n 1</a>.</font>     <P align="center"><a name="e1" id="e1"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0103112.gif" alt="EcuaciÃ³n 1" width="129" height="44" />      <P><font size="2" face="Verdana">Donde: </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Î¸: Angulo de difracci&oacute;n para los planos (110; 200 y 211), grados. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">n: Orden de la difracci&oacute;n (1, 2 y 3). </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">d<sub>hkl</sub>: Distancia interplanar de las series de planos (110; 200 y 211); nm. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Considerando la longitud de onda empleada, se obtendr&aacute; para cada difracci&oacute;n del ensayo,  un valor de la distancia interplanar dada la por la <a href="#e2">ecuaci&oacute;n 2</a>.</font>     <P align="center"><font size="2" face="Verdana"><a name="e2" id="e2"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0203112.gif" alt="EcuaciÃ³n 2" width="161" height="35" /></font>      <P><font size="2" face="Verdana">En el sistema c&uacute;bico, el par&aacute;metro de red, a, es proporcional a la distancia interplanar, d<sub>hkl</sub> de  la familia de planos hkl a trav&eacute;s de la <a href="#e3">ecuaci&oacute;n 3</a> </font>      <P align="center"><a name="e3" id="e3"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0303112.gif" alt="EcuaciÃ³n 3" width="242" height="44" />      <P><font size="2" face="Verdana">De esta forma, para un pico de difracci&oacute;n 2<i>Î¸<sub>B</sub></i>,  puede obtenerse, mediante la ley de <i>Bragg</i>, el  valor de la distancia interplanar y con &eacute;ste, el par&aacute;metro de red. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La posici&oacute;n de los picos de difracci&oacute;n depende directamente de la distancia interplanar, de  los planos que se encuentren paralelos al plano de difracci&oacute;n. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Como cada material tiene una estructura cristalogr&aacute;fica diferente, un patr&oacute;n de difracci&oacute;n  de rayos X es &uacute;nico y caracter&iacute;stico y permite por tanto identificar qu&eacute; fases forman la muestra  a estudiar. En el caso de este trabajo, esta t&eacute;cnica ha sido fundamental tanto para la  caracterizaci&oacute;n cristalina de la muestra como para la identificaci&oacute;n de los procesos que se producen en la  misma bajo tratamiento. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">El modelo de <i>Williamson-Hall</i>, establece    que el ancho integral del pico de difracci&oacute;n puro (Î²) puede ser separado    en dos componentes, una correspondiente al tama&ntilde;o de part&iacute;culas    y otra a su deformaci&oacute;n estructural, ambas en funci&oacute;n del &aacute;ngulo    de difracci&oacute;n. </font>      <P><font size="2" face="Verdana">La anchura a media altura (FWHM, <i>Full Width at Half Maximum</i>) de los picos de  difracci&oacute;n tambi&eacute;n aporta informaci&oacute;n muy valiosa para la caracterizaci&oacute;n cristalina de una muestra.  A partir de la f&oacute;rmula de <i>Scherrer</i> [11], se obtiene que la anchura a media altura es  inversamente proporcional al tama&ntilde;o de los granos cristalitos y se determina como: </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P align="center"><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0403112.gif" alt="EcuaciÃ³n 4" width="311" height="38" />      <P><font size="2" face="Verdana">El tama&ntilde;o medio de cristalito (t), de la fase cristalina presente en las muestras deformadas  fue determinado a trav&eacute;s de la <a href="#e5">f&oacute;rmula de <i>Scherrer</i></a><i> </i>[3]. </font>     <P align="center"><a name="e5" id="e5"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0503112.gif" alt="fÃ³rmula de Scherrer. EcuaciÃ³n 5" width="225" height="38" />      <P><font size="2" face="Verdana">En el caso de una barra s&oacute;lida, como en esta aplicaci&oacute;n y una condici&oacute;n de tensi&oacute;n plana  existente en la superficie deformada, la distancia interplanar depender&aacute;n de las tensiones presente y  se determina como: </font>     <P align="center"><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0603112.gif" alt="EcuaciÃ³n 6" width="459" height="216" />      <P><font size="2" face="Verdana">En la direcci&oacute;n paralela a la superficie normal  <i>Ïˆ = 0</i>; la distancia interplanar depende de la suma de las tensiones principales y de cualquier tensi&oacute;n perpendicular, as&iacute; como la suma de la  tensi&oacute;n circunferencial, lo cual permite determinar el espacio interplanar de la muestra no tensionada. </font>      <P align="center"><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0703112.gif" alt="EcuaciÃ³n 7" width="309" height="172" />      <P><font size="2" face="Verdana"><b>Evaluaci&oacute;n de macrodeformaciones </b></font>     <P><font size="2" face="Verdana">Cuando se determinan las macrotensiones, al menos en tres direcciones y se supone una  condici&oacute;n de esfuerzo plano, &eacute;stas se pueden combinar para determinar las tensiones residuales  m&aacute;ximas y m&iacute;nimas, las tensiones de cizalladuras m&aacute;ximas y su orientaci&oacute;n relativa a una  direcci&oacute;n de referencia. Esta distorsi&oacute;n uniforme de la red cristalina desplaza el &aacute;ngulo de difracci&oacute;n de la l&iacute;nea seleccionada para el an&aacute;lisis de tensiones y se determina mediante: </font>     <P align="center"><a name="e8" id="e8"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0803112.gif" alt="EcuaciÃ³n 8" width="261" height="44" />      ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">La <a href="#e8">ecuaci&oacute;n 8</a> relaciona la tensi&oacute;n de la superficie Ïƒ en cualquier direcci&oacute;n definida por el &aacute;ngulo Ïˆ  en la </font> <font size="2" face="Verdana">direcci&oacute;n (<i>Ï†Ïˆ</i>) y las tensiones principales en la superficie. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Si   d<sub>Ï†Ïˆ</sub> es la distancia interplanar entre los planos reticulados medidos en la direcci&oacute;n definida por    Ï† y  Ïˆ, la tensi&oacute;n puede expresarse teniendo en cuenta los cambios en las dimensiones lineales  del espacio cristalito como: </font>     <P align="center"><img src="/img/revistas/im/v15n1/e0903112.gif" alt="EcuaciÃ³n 9" width="209" height="45" />      <P><font size="2" face="Verdana">Cuando una capa est&aacute; tensionada, los par&aacute;metros de red de la estructura cristalina  est&aacute;n distorsionados respecto a los de la estructura libre de tensiones. </font>      <P><font size="2" face="Verdana">Conociendo la deformaci&oacute;n, Îµ, en el caso de tratar con un material continuo, homog&eacute;neo  e is&oacute;tropo, la deformaci&oacute;n se relaciona con la tensi&oacute;n a trav&eacute;s de la ley de Hooke. </font>     <p>&nbsp;</p>     <P><b><font size="3" face="Verdana">RESULTADOS Y DISCUSI&Oacute;N</font></b>      <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana">El an&aacute;lisis de las microdeformaciones se realiz&oacute; para las reflexiones (110), (200) y (211),  teniendo en cuenta los &iacute;ndices de Miller (hkl), para una longitud de onda de 0,154065 nm y para  cada coeficiente K, seg&uacute;n el &aacute;ngulo de difracci&oacute;n. Los valores obtenidos de las macro  y microdeformaciones en el plano (211) de las nueve probetas, se muestran en la <a href="#t2">tabla 2</a> mientras que en la <a href="#t3">tabla 3</a> se muestran las distancias interplanares para la reflexi&oacute;n de los planos  (110); (200) y (211). </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Los resultados de una tensi&oacute;n de compresi&oacute;n provocados por el efecto en las barras, sometidas a procesos de rodadura, permitieron hallar los valores referidos en la <a href="#t2">tabla 2</a>, los cuales muestran las macrotensiones residuales determinadas por el m&eacute;todo magnetoel&aacute;stico. De los resultados obtenidos se puede apreciar que: </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana"> Existen componentes de cizalladura no nulas que son mayores en las superficies tratadas  del cilindro CT.</font> <ul type="square" compact>       <li><font size="2" face="Verdana">Los &aacute;ngulos Î± que forman la tensi&oacute;n principal Ïƒ<sub>1</sub> con el eje de la barra son significativos en los casos analizados, indicando que las direcciones principales del tensor no coinciden con      los ejes del sistema de referencia seleccionado (ZZ y Ï†Ï†) </font>  </li>       <li><font size="2" face="Verdana">Los tratamientos de rodadura aumentan las tensiones de compresi&oacute;n en las      superficies tratadas, </font>  </li>       <li><font size="2" face="Verdana">La tensi&oacute;n en la direcci&oacute;n radial, normal a la superficie resulta nula. Para los puntos      de medici&oacute;n </font>  </li>     </ul>     <P><font size="2" face="Verdana">P = TN, TT, se cumple que Ïƒ (â„®<sub>z</sub>) = 0. </font>     <P align="center"><a name="t2" id="t2"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/t0203112.gif" alt="Tabla 2. Resultados de las macro y microdeformaciones (reflexiÃ³n del plano (211) " width="629" height="457" />      <P align="center"><a name="t3" id="t3"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/t0303112.gif" alt="Tabla 3. Valores de dÏ†Ïˆ  para la reflexiÃ³n de los planos (110); (200) y (211)" width="532" height="249" />      <P><font size="2" face="Verdana">Para evaluar las microdeformaciones en las muestras analizadas se tom&oacute; como referencia  la muestra libre de tensi&oacute;n y la muestra nueve (muestra con mayor deformaci&oacute;n), en la  muestra libre de tensi&oacute;n se pudo observar la ausencia de microdefoermaciones y gran tama&ntilde;o de  cristalito o dominios coherentes. En la barra nueve se experimentan una disminuci&oacute;n del tama&ntilde;o de  esos dominios y un aumento de la microdeformaci&oacute;n. El menor esfuerzo cortante encontrado  puede ser debido al hecho de que el deslizamiento que ocurre por los esfuerzos cortantes no  sucede simult&aacute;neamente en todas las posiciones at&oacute;micas que se desplazar&iacute;an en una posici&oacute;n, sino  de forma ordenada &aacute;tomo tras &aacute;tomo, que ocupar&iacute;an la vacante del frente de la dislocaci&oacute;n. </font>      <P><font size="2" face="Verdana">La distancia interplanar no tensionada, teniendo en cuenta la suma de las tensiones axiales  y circunferenciales para el plano d<sub>hkl</sub> es de 0,117 131 nm (1,17 131 &Aring;). Este resultado est&aacute;  en correspondencia con otros autores [3 y 9], lo que demuestra que para el acero AISI 1045  una muestra no tensionada va a presentar este valor despu&eacute;s de ser sometidas a un tratamiento  de alivio de tensiones. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">Para determinar el comportamiento de las diferentes distancias interplanares deformadas en  fr&iacute;o por rodillo simple, s&eacute; tomaron los resultados de la barra nueve por presentar los mayores  valores de deformaci&oacute;n. En la <a href="#f2">figura 2</a>, se observa el comportamiento de (d<sub>Ï†Ïˆ</sub>) con respecto a   sen<sup>2</sup>Ïˆ para  una fuerza de 2 500 N, avance de 0,25 mm/rev y n&uacute;mero de revoluci&oacute;n de 110 rev/min. </font>     <P align="center"><a name="f2" id="f2"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/f0203112.gif" alt="Fig. 2. Comportamiento de dÏ†Ïˆ con respecto a sen2 Ïˆ en la barra nueve" width="367" height="243" />      <P><font size="2" face="Verdana">La distribuci&oacute;n de los granos en la sub-superficie de la distancia interplanar tensionada en el plano (211) con respecto a  se muestra en la <a href="#f2">figura 2</a>. Los resultados muestran una reducci&oacute;n entre la distancia interplanar libre de tensiones (1,17131 &Aring;) con respecto a la distancia interplanar tensionada (1,17004 &Aring;) cerca de la superficie, esto se atribuye al proceso de deformaci&oacute;n por compresi&oacute;n a la que fue sometida la pieza. La dependencia obtenida por difracci&oacute;n de rayos X para la tensi&oacute;n axial, apunta hacia la existencia de una tensi&oacute;n de compresi&oacute;n atendiendo a la disminuci&oacute;n de la distancia interplanar (d) a medida que aumenta el &aacute;ngulo Ïˆ. Los  efectos que causan tensiones internas son de tipo microsc&oacute;pico: dislocaciones, fallas de </font> <font size="2" face="Verdana">apilamiento, vacancias, gradientes de composici&oacute;n o de tensi&oacute;n, entre otras m&aacute;s, las cuales van asociadas a la variaci&oacute;n de la distancia interplanar [3]. </font>      <P><font size="2" face="Verdana"><b>Determinaci&oacute;n de la anchura a media altura</b> </font>     <P><font size="2" face="Verdana">En un cristal finito cuando un haz incide con un &aacute;ngulo pr&oacute;ximo a Î¸  el haz difractado no se anula [3]. El pico de difracci&oacute;n tiene entonces una anchura Î² (anchura a media altura del pico),  que est&aacute; relacionada con el tama&ntilde;o de grano (t) (o dominio de coherencia) a trav&eacute;s de la <a href="#e5">f&oacute;rmula  de Scherrer</a>, para la difracci&oacute;n en los planos (211), (200) y (100). En la <a href="#f3">figura 3</a> se muestra el comportamiento de FWHM de las barras ocho y nueve con relaci&oacute;n a la barra libre de tensiones. </font>     <P align="center"><a name="f3" id="f3"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/f0303112.gif" alt="Fig. 3. Comportamiento del ancho del pico de difracciÃ³n teniendo en cuenta las reflexiones (110), (200) y (211) respecto al coeficiente K en las barras ocho y nueve" width="480" height="357" />      <P><font size="2" face="Verdana">En la <a href="#f3">figura 3</a>, para las barras ocho y nueve se obtienen resultados diferentes en cada  reflexi&oacute;n con respecto a la muestra libre de tensi&oacute;n.  En el plano ?211 (1,71162 &Aring;), respecto al plano  Î²<sub>110</sub> (1,72118 &Aring;) y Î²<sub>200</sub> (1,73198 &Aring;), se aprecia que el m&aacute;ximo de intensidad disminuye en relaci&oacute;n al plano que difractan. Se puede observar c&oacute;mo la ordenada en el plano (211) aumenta, por lo que el dominio cristalito disminuye. El valor de Î² muestra K, nm-1 para la reflexi&oacute;n (200) se distancia bastante de la tendencia seguida por el resto de las reflexiones, ocurre cuando la morfolog&iacute;a exterior de la part&iacute;cula quedan apiladas unas sobre otras en una misma direcci&oacute;n ofreciendo la misma cara al haz incidente de rayos X, que coincide con la familia de planos (200),  por tanto, la intensidad de esta reflexi&oacute;n se ve incrementada en detrimento de las otras reflexiones que no quedan tan favorecidas por el haz de rayos X.</font>     <P><font size="2" face="Verdana">La altura del pico se incrementa desde 0,013 rad en la muestra libre de tensiones hasta 0,028  rad para la barra ocho y 0,033 rad para la barra nueve, trayendo consigo el ensanchamiento del  pico de difracci&oacute;n. El pico se ensancha por el efecto del refinamiento de la microestructura  (disminuci&oacute;n del dominio cristalito) y por el aumento de la tensi&oacute;n residual (microdeformaciones).  Ambos efectos est&aacute;n relacionados con la deformaci&oacute;n en fr&iacute;o introducida por la acci&oacute;n del  rodillo sobre la superficie. Del ensanchamiento de los picos se puede obtener una valiosa  informaci&oacute;n acerca del dominio cristalito y las microdeformaciones mediante la aplicaci&oacute;n del m&eacute;todo  de <i>Williamson-Hall</i>, que permite descomponer estas dos contribuciones. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">De acuerdo con [2], en el ensanchamiento de los picos de difracci&oacute;n, influye la reducci&oacute;n  del tama&ntilde;o del grano y el aumento del trabajo de deformaci&oacute;n en fr&iacute;o del metal, el cual provoca  un aumento de la densidad de dislocaciones, defectos de apilamiento reticular, y un incremento  de las tensiones residuales de segundo g&eacute;nero. Se ha demostrado que el incremento del  semiancho f&iacute;sico del pico, se debe exclusivamente a los defectos que aparecen en la estructura luego de  la compresi&oacute;n din&aacute;mica. </font>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Determinaci&oacute;n del dominio cristalito y la microdeformaci&oacute;n</b> </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">El tama&ntilde;o medio de cristalito (t) de las fases cristalinas presentes en las muestras deformadas  fue determinado a trav&eacute;s de la <a href="#e5">f&oacute;rmula de Scherrer</a>. La <a href="#f4">figura 4</a>, se corresponde con el  comportamiento del dominio cristalito de la barra nueve, con fuerza de 2 500 N, avance de 0,25 mm/rev  y n&uacute;mero de revoluci&oacute;n de 110 rev/min. </font>     <P align="center"><a name="f4" id="f4"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/f0403112.gif" alt="Fig. 4. Dominio cristalito con respecto a de la barra nueve en la reflexiÃ³n (211) " width="404" height="292" />      <P><font size="2" face="Verdana">Como se puede observar en la <a href="#f4">figura 4</a>, en la medida que aumenta el &aacute;ngulo Ïˆ existe un  desajuste de volumen entre distintas zonas del material por la deformaci&oacute;n pl&aacute;stica no homog&eacute;nea y por  la introducci&oacute;n de &aacute;tomos en las cercan&iacute;as de la superficie provocando la disminuci&oacute;n del  dominio cristalito. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La disminuci&oacute;n del dominio cristalito hasta 0,11695 nm, se produce porque la  deformaci&oacute;n pl&aacute;stica multiplica el n&uacute;mero de dislocaciones en la muestra. El comportamiento de  estas dislocaciones puede ser muy variado desde la formaci&oacute;n de paredes densas de  dislocaciones dentro de un grano (agrupaci&oacute;n ordenada), acumulaci&oacute;n o apilamiento en las paredes de  los granos, agrupamiento desordenado dentro del grano [3 y 16]. Todos estos  comportamientos tienen como consecuencia final la formaci&oacute;n de celdas de dislocaciones por aniquilaci&oacute;n  o recombinaci&oacute;n para reducir la energ&iacute;a del sistema y que dan lugar a una estructura de  subgranos dentro del grano original y por tanto una disminuci&oacute;n del tama&ntilde;o efectivo de la zona de  coherencia cristalina. Por otro lado, el aumento de las tensiones residuales en el material viene  originado por los campos de tensiones asociados a las dislocaciones y su multiplicaci&oacute;n. Tal  comportamiento est&aacute; relacionado con el aumento de la densidad de dislocaciones. </font>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>Resultados de las macrodeformaciones</b></font>     <P><font size="2" face="Verdana">Cuando se determinan las macrotensiones al menos en 3 direcciones, &eacute;stas se pueden  combinar para determinar las tensiones residuales m&aacute;ximas y m&iacute;nimas, las tensiones de cizalladuras  m&aacute;ximas y su orientaci&oacute;n relativa a una direcci&oacute;n de referencia. Esta distorsi&oacute;n uniforme de la  red cristalina desplaza el &aacute;ngulo de difracci&oacute;n de la l&iacute;nea seleccionada para el an&aacute;lisis de  tensiones. En la <a href="#t4">tabla 4</a> se muestran los valores de las deformaciones (Îµ), de las nueve muestras,  teniendo en cuenta las tensiones en las superficies cil&iacute;ndricas tratadas y no tratadas. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Si  d<sub><i>Ï†Ïˆ</i></sub> es la distancia interplanar entre los planos reticulados medidos en la direcci&oacute;n definida por Ï† y   Ïˆ, y  d<sub>0</sub>es la distancia interplanar libre de tensiones, la tensi&oacute;n puede expresarse teniendo en  cuenta los cambios en las dimensiones lineales del espacio cristalito. </font>     <P align="center"><a name="t4" id="t4"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/t0403112.gif" alt="Tabla 4. Valores de (Îµ) para las superficies cilÃ­ndricas tratadas y no tratadas " width="381" height="194" />      <P><font size="2" face="Verdana">La <a href="#f5">figura 5</a> eval&uacute;a el comportamiento de la barra nueve despu&eacute;s del proceso de  deformaci&oacute;n pl&aacute;stica con respecto a la barra libre de tensiones, para ello se tuvo en cuenta el valor de  la deformaci&oacute;n y el valor de </font>   <font size="2" face="Verdana">sen<sup>2</sup>Ïˆ  </font>     <P align="center"><a name="f5" id="f5"></a><img src="/img/revistas/im/v15n1/f0503112.gif" alt="Fig. 5. Comportamiento de la deformaciÃ³n (Îµ) considerando respecto a sen2Ïˆ " width="415" height="271"/>      ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font size="2" face="Verdana">Las tensiones macrosc&oacute;picas o macrotensiones se obtienen en la barra nueve como resultados  de la extensi&oacute;n de los granos por encima de la distancias del material no tensionado, sin  embargo, esta anomal&iacute;a tambi&eacute;n puede atribuirse a la tensi&oacute;n desequilibrada entre la superficie y el  volumen del material. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La presencia de tensiones desequilibradas y el movimiento de los granos se determinaron  a trav&eacute;s del efecto magnetoel&aacute;stico, tambi&eacute;n se comprob&oacute; que, mediante este proceso aumenta  el signo de las deformaciones. La <a href="#f5">figura 5</a> muestra una deformaci&oacute;n en el acero AISI 1045 hasta  - 0,0027, la curva obtenida es producto de la formaci&oacute;n de nuevos cristales durante el  proceso, esto da lugar a dominios cristalitos cuyos planos quedan orientados perpendicularmente a  la direcci&oacute;n en la que se produjo la deformaci&oacute;n, coincidiendo su forma con la forma exterior de  la part&iacute;cula. Las tensiones aparecen como resultados del cambio entre la capa de la superficie  del material no deformado y al proceso de la deformaci&oacute;n. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">La deformaci&oacute;n pl&aacute;stica de los metales produce cambios en los perfiles de difracci&oacute;n de rayos  X. Los cambios m&aacute;s apreciables son en la forma y en la intensidad integrada, pero el cambio  se debe a dos efectos mezclados, tama&ntilde;o de cristalitas y esfuerzos en la red cristalina. </font>     <P><font size="2" face="Verdana">Seg&uacute;n [17], la causa por la que una disminuci&oacute;n del tama&ntilde;o de grano trae como consecuencia  un aumento de la dureza se debe a dos factores. El primero, al disminuir el tama&ntilde;o aumenta  el n&uacute;mero de fronteras de grano en una misma &aacute;rea, esto provoca una elevaci&oacute;n de las tensiones  a nivel cristalito. El otro es que en los metales y aleaciones policristalinas, los bordes de los  cristales constituyen un obst&aacute;culo ante el que se acumulan las dislocaciones. </font>     <p>&nbsp;</p>     <P><b><font size="3" face="Verdana">CONCLUSIONES</font></b>     <p>&nbsp;</p> <ul type="square" compact>       <li><font size="2" face="Verdana">Las tensiones por el m&eacute;todo del   y difractom&eacute;trico considerando los planos (110), (200)      y (211) permite estimar la deformaci&oacute;n reticular del par&aacute;metro de red a, el tama&ntilde;o de      los cristalitos, esfuerzos en la red cristalina y que el mecanismo de endurecimiento del acero      AISI 1045 deformado por rodadura ocurre por el defecto lineal: Dislocaci&oacute;n de arista o de Taylor y      el defecto planar: l&iacute;mite de grano. </font>   </li>       <li><font size="2" face="Verdana">Las orientaciones cristalogr&aacute;ficas empleadas, los planos (110); (200) y (211)      permite establecer que la dureza depende de la estructura cristalina y que las tensiones de primer      y segundo g&eacute;nero caracterizan el nivel de tensionamiento del acero AISI 1045 deformado      pl&aacute;sticamente. </font>   </li>       <li><font size="2" face="Verdana">Como consecuencias del incremento de las tensiones de compresi&oacute;n, surge un      estado tensional que deforma al acero AISI 1045, el cual se produce como resultado del      tensionamiento de la estructura cristalina de la red, la reducci&oacute;n del tama&ntilde;o promedio de los granos y el      aumento de la acritud.     </font>   </li>     ]]></body>
<body><![CDATA[</ul>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="3" face="Verdana"><b>AGRADECIMIENTOS</b></font>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana">Al Centro de Aplicaciones Tecnol&oacute;gicas y Desarrollo Nuclear (CEADEN) por la realizaci&oacute;n de los ensayos, especialmente a la MSc. Victoria Herrera Palma y el Dr. Carlos Cruz Inclan. </font>     <p>&nbsp;</p>     <P><b><font size="3" face="Verdana">REFERENCIAS</font></b>     <p>&nbsp;</p>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">1.     Angelo, L., Gonz&aacute;lez, J., Ochoa, L. <i>et al</i>. &quot;Estudio de las transformaciones  estructurales producidas por el proceso de aleaci&oacute;n mec&aacute;nica en el sistema Fe-Al&quot;. <i>Revista de la Facultad  de Ingenier&iacute;a Universidad Central de Venezuela</i>. 2006. vol. 21, nÂº. 1, p. 1-6, ISSN 0798 4065.     </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">2.     Birkholz, M. <i>Thin film analysis by X- Ray scattering</i>. Wiley VCH, 2006.     </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">3.     Cullity, B. <i>Elements of X - Ray Diffraction</i>. 2nd ed. Addison Wesley. 1978. p. 470.     </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">4.     Chen, X., Yan, J. y Karlsson., A. &quot;On the determination of residual stress and  mechanical properties by Indentation&quot;. <i>Materials Science and Engineering</i>. 2006. vol. 416, nÂº. 2, p. 139-149. </font> <font size="2" face="Verdana">ISSN 0921-5093 </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">5.     Cruz, C., L&oacute;pez, N., Mart&iacute;n, J., <i>et al</i>. &quot;Desarrollo y consolidaci&oacute;n de una versi&oacute;n  avanzada del medidor de tensiones residuales TENSO&quot;. En: <i>Seminario y Miniforo Iberoamericano  de Tecnolog&iacute;a de Materiales</i>. </font> <font size="2" face="Verdana"> La Habana: CYTED. mayo 2005. ISBN 959-7136-34-1.    </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">6.     Davidienkov, T. y Fitzpatrick, M. &quot;Determinaci&oacute;n de las tensiones residuales en las  capas superficiales del acero templado y revenido, tratado por corte, utilizando la difractometr&iacute;a  por rayos X&quot;. <i>Materials Science and Engineering</i>. 2005. vol 4, nÂº. 2, p. 23-28. </font>  <font size="2" face="Verdana">ISSN 0921-5093</font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">7.     Fern&aacute;ndez, T., Rodr&iacute;guez, I., Alc&aacute;ntara; D., <i>et al</i>. &quot;Tensi&oacute;n-Deformaci&oacute;n durante la  deformaci&oacute;n Pl&aacute;stica Superficial con rodillo&quot;. <i>Ingenier&iacute;a Mec&aacute;nica</i>. 2009. vol. 12, nÂº. 3, p. 13-22.  [Consultado el: 20 de enero de 2011]. Disponible en:  <a href="http://redalyc.uaemex.mx/src/inicio/ArtPdfRed.jsp?iCve=225114976002" target="_blank">http://redalyc.uaemex.mx/src/inicio/ArtPdfRed.jsp?iCve=225114976002</a>. ISSN 1815-5944 </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">8.     Hauk, V. <i>Structural and Residual Stress analysis by nondestructive methods</i>.  Elsevier, 1997.  </font> <font size="2" face="Verdana">ISBN 0 444 824766.    </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">9.     Hauk, V. y Macherauch, E. &quot;Useful guide for X-Ray stress evaluation (XSE)&quot;. <i>Advances  in X-Ray Analysis</i>. 1984. vol 27, nÂº. 2, p. 81-99.     </font>     <P><font size="2" face="Verdana">10.     Herrera, M. y Cruz., C. &quot;Aplicaci&oacute;n de M&eacute;todos Magn&eacute;ticos y la Difracci&oacute;n de Rayos X  a la Medici&oacute;n de Tensiones Residuales&quot;. En: <i>Seminario Iberoamericano de Tecnolog&iacute;a de  Materiales</i>. La Habana: CYTED. </font>   <font size="2" face="Verdana">9 al 11 de mayo 2005.</font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">11.     Lamparter, P. <i>Crystallite sizes and microstrains from X-ray diffraction line profile  analysis</i>. 2000. [Consultado el: 8 de Marzo de 2008]. Disponible en:  <a href="http://www.icdd.com/resources/axa/vol40/V40_083.pdf" target="_blank">http://www.icdd.com/resources/axa/vol40/V40_083.pdf</a> .      </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">12.     Lucas, C., Nguyen, T. y  Kortright., J. &quot;X-ray reflectivity measurements of the  expansion of carbon films upon annealing&quot;. <i>Appl. Phys Lett</i>. 2010. vol. 59, nÂº. 17, p. 19-21. ISSN  0003-6951.     </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">13.     Rocha, A., Nunes, R. y Hirsch, T. &quot;Compara&ccedil;&atilde;o entre difra&ccedil;&atilde;o de raios X e &quot;m&eacute;todo  do furo cego&quot; para medi&ccedil;&atilde;o de tens&otilde;es residuais em barras cil&iacute;ndricas&quot;. <i>Revista Mat&eacute;ria</i>. 2009.  vol. 14, nÂº. 3, p. 1-14. </font> <font size="2" face="Verdana">ISSN 1517-7076.    </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">14.     Ruiz, D., Piotrkowski, R., Pumarega, M., <i>et al</i>.  &quot;Ruido Barkhausen y emisi&oacute;n  magneto ac&uacute;stica para la caracterizaci&oacute;n de materiales ferromagn&eacute;ticos&quot;. <i>Revista Mat&eacute;ria</i>. 2008. vol  13, nÂº. 1, p. 12-22. [Consultado el: 6 de Enero de 2011]. Disponible  en: <a href="http://www.materia.coppe.ufrj.br/sarra/artigos/artigo10884" target="_blank">http://www.materia.coppe.ufrj.br/sarra/artigos/artigo10884</a>. </font> <font size="2" face="Verdana">ISSN 1517-076.    </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">15.     Sakai, Y., Hiroyuki, U. y Teruo, Y. &quot;Non-destructive method of stress evaluation in  line pipes using magnetic anisotropy sensor&quot;. JFR Technical Report. 2004. vol 3, nÂº. 1, p. 47-53. Disponible en: </font>  <a href="http://www.jfe-steel.co.jp/en/index.html" target="_blank"><font size="2" face="Verdana">http://www.jfe-steel.co.jp/en/index.html</font></a>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">16.     Stokes, J. y Looney, L. &quot;Residual stress in HVOF thermally sprayed thick  deposits&quot;. <i>Surface and Coatings Technology</i>. 2004. vol 177, nÂº. 178, p. 18-23. ISSN 0257-8972.     </font>     <!-- ref --><P><font size="2" face="Verdana">17.     Williamson, G. y Hall, W. &quot;X-ray line broadening from filed aluminium and  wolfram&quot;. <i>Acta Metal</i>. 1953. vol.1, p. 22-31.     </font>     <p>&nbsp;</p>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana">Recibido: 20 de mayo de 2011.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br>           Aceptado: 12 de diciembre de 2011. </font>     <p>&nbsp;</p>     <p>&nbsp;</p>     <P><font size="2" face="Verdana"><i>TomÃ¡s FernÃ¡ndez-ColumbiÃ©</i>. Instituto Superior Minero MetalÃºrgico. Departamento MecÃ¡nica. Moa. Cuba</font>.    <br>   <font size="2" face="Verdana">Correo electr&oacute;nico: <a href="mailto:tfernandez@ismm.edu.cu">tfernandez@ismm.edu.cu</a> </font>       ]]></body><back>
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