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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Las correcciones de arco y de pulso y el voltaje en la transferencia metálica fría]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The cold metal transfer welding functions such as arc and pulse correction modify the voltage and the current. However, has not sufficiently studied these variation, specifically the effect of these corrections on the oscillogram svoltage´s and processes potency variation. The arc length and current pulse correction functions have a direct influence on potency consumed in the cold metal transfer process, so much independent like combined, while the has an inversely influence. The growth combined of arc and pulse correction and welding velocity inversely acts on consumed potency of cold metal transfer process.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><font face="verdana" size="2"><b>ART&Iacute;CULO ORIGINAL</b></font></p>     <p align="right">&nbsp;</p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="4"><b>Las correcciones de arco y    de pulso y el voltaje en la transferencia met&aacute;lica fr&iacute;a</b></font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="3"><b>The arc and pulse corrections    and the voltage in thecold metal transfer</b></font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify">&nbsp;</p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Ren&eacute; Eduardo de&#45;luna&#45;Alan&iacute;s<sup>I</sup>    , Carlos Ren&eacute; G&oacute;mez&#45;P&eacute;rez<sup>II</sup></b></font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup>I</sup> Centro de Innovaci&oacute;n    y Desarrollo Tecnol&oacute;gico en Soldadura. Nuevo Le&oacute;n, M&eacute;xico    <br>   <sup>II</sup> Universidad Central Marta Abreu de Las Villas, Centro de Investigaciones    de Soldadura. Villa Clara. Cuba</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify">&nbsp;</p> <hr>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>RESUMEN</b></font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las correcciones de arco y de    pulso del proceso de soldadura con transferencia met&aacute;lica fr&iacute;a    modifican el voltaje y la corriente. Sin embargo, dicha variaci&oacute;n no    se ha estudiado suficientemente, espec&iacute;ficamente el efecto de estas correcciones    sobre los oscilogramas de voltaje y la variaci&oacute;n de la potencia del proceso.    El objetivo del presente trabajo es analizar la influencia del efecto de las    correcciones de arco y de pulso, del proceso de soldadura con transferencia    met&aacute;lica fr&iacute;a, sobre el oscilograma de voltaje en la etapa de    arco el&eacute;ctrico durante la realizaci&oacute;n de uniones soldadas en aluminio    5083. Las funciones de correcci&oacute;n de la longitud de arco y del puso de    corriente influyen de forma directa, tanto independientes como combinadas, sobre    la potencia consumida en el proceso de soldadura met&aacute;lica fr&iacute;a,    mientras que la velocidad de soldadura influye inversamente. El crecimiento    combinado de las variables referidas influye inversamente sobre la potencia    consumida.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><a><b>Palabras claves:</b></a>    correcci&oacute;n de arco, correcci&oacute;n de pulso, transferencia met&aacute;lica    fr&iacute;a, proceso CMT, oscilogramas, potencia.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>ABSTRACT</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">The cold metal transfer welding    functions such as arc and pulse correction modify the voltage and the current.    However, has not sufficiently studied these variation, specifically the effect    of these corrections on the oscillogram svoltage&#180;s and processes potency    variation. The arc length and current pulse correction functions have a direct    influence on potency consumed in the cold metal transfer process, so much independent    like combined, while the has an inversely influence. The growth combined of    arc and pulse correction and welding velocity inversely acts on consumed potency    of cold metal transfer process.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Key words:</b> arc correction,    pulse correction, cold metal transfer, CMT process, oscillogram, consumption.</font></p>  	 <hr>     <p align="justify">&nbsp;</p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><font size="3">INTRODUCCI&Oacute;N</font></b></font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El proceso de soldadura con transferencia    met&aacute;lica fr&iacute;a o Cold Metal Transfer (CMT), del idioma ingl&eacute;s,    resulta relativamente nuevo &#91;1&#93; aunque investigaciones realizadas sobre    el proceso CMT refieren su uso para la soldadura blanda &#91;2&#93;, incluso    para materiales dis&iacute;miles, como aluminio y acero com&uacute;n acero galvanizado    o borado &#91;3&#93;. Otros ejemplos de aplicaci&oacute;n en la soldadura de    metales diferentes es la uni&oacute;n de la aleaci&oacute;n de magnesio AZ31B    a la de aluminio A6061&#45;T6 &#91;4&#93;, en la soldadura de diferentes aleaciones    de aluminio &#91;5&#93;, incluso con proceso robotizado &#91;6&#93;, estudiando    la transferencia en modo de corto circuito &#91;7&#93; y la forma de transferencia    de la gota durante la soldadura CMT de aleaciones de Ti&#45;6Al&#45;4V &#91;8&#93;.    Otras publicaciones &#91;9&#93; han tratado la soldadura de componentes navales    construidos con las aleaciones de las series 6061 y 2xxx empleando baja energ&iacute;a    (CMT). Sin embargo, en ninguna de las publicaciones consultadas se encuentra    analizado suficientemente el efecto de las correcciones del proceso CMT (de    longitud de arco y de pulso de corriente) sobre los oscilogramas de voltaje    y su efecto en la evaluaci&oacute;n de la estabilidad del proceso y la potencia    consumida.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El proceso CMT controla la longitud    del arco &#91;10&#93;; en procesos convencionales de GMAW la tensi&oacute;n    de la soldadura se mide para determinar la longitud de arco.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El proceso CMT puede variar el    calor aportado, desde rangos relativamente bajos (transferencia met&aacute;lica    pr&aacute;cticamente sin aporte t&eacute;rmico), hasta relativamente altos (comparables    con el GMAW), partiendo de principio de funcionamiento, aspecto este no ampliamente    estudiado hasta el momento, en todos sus variantes y aplicaciones; no obstante,    se han hecho estudios espec&iacute;ficamente de la aplicaci&oacute;n del proceso    CMT sobre las propiedades mec&aacute;nicas en las aleaciones de aluminio 6061    &#91;11&#93;, 5083&#45;H111 y 6082&#45;T651 &#91;12&#93;, aunque sus autores    no consideran la variaci&oacute;n de la energ&iacute;a de soldadura.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Luego, las correcciones de longitud    de arco (modificadora del voltaje empleado) y de pulso (modificadora de la corriente)    son variables intr&iacute;nsecas del proceso CMT &#91;13, 14], que pueden modificar    la energ&iacute;a lineal aportada &#91;1&#93; y, &eacute;sta energ&iacute;a,    modificar la forma geom&eacute;trica de los cordones &#91;15&#93;, que afectar&iacute;a    el comportamiento de las propiedades mec&aacute;nicas de las uniones y los costos    asociados al proceso. Por tanto, la correcci&oacute;n de la longitud de arco,    de pulso y la velocidad de soldadura pudieran ser consideradas como variables    esenciales para la evaluaci&oacute;n de las propiedades mec&aacute;nicas y los    costos del proceso de uni&oacute;n sobre la aleaci&oacute;n de aluminio 5083,    obtenidas con la aplicaci&oacute;n del proceso CMT, lo cual no ha sido aun suficientemente    estudiado.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En el muestreo en tiempo real    de las se&ntilde;ales el&eacute;ctricas de arco, se digitalizan todos los datos    utilizando un evento de disparo &uacute;nico &#91;16&#93;. Existen procedimientos    virtuales para evaluar la energ&iacute;a del arco &#91;17&#93;; sin embargo,    la adquisici&oacute;n de las se&ntilde;ales permite monitorear la potencia real    consumida. Estudios realizados sobre el consumo de potencia en el proceso CMT    parecen contradictorios, como ocurre con los trabajos publicados por Dutra &#91;10&#93;,    Ryka&#322;a &#91;6&#93; y Sun &#91;8&#93;, lo cual demuestra la importancia    de aportar elementos sobre el tema.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Tambi&eacute;n, se han realizado    estudios, a partir de la adquisici&oacute;n de se&ntilde;ales el&eacute;ctricas,    evaluando la forma de la onda de corriente y de voltaje en el proceso CMT &#91;18&#93;,    pero no se ha apreciado una suficiente caracterizaci&oacute;n de las ondas obtenidas    en la regi&oacute;n de alta frecuencia, en cuanto a las oscilaciones de sus    par&aacute;metros caracter&iacute;sticos, tales como los picos de voltaje de    reencendido y su repercusi&oacute;n en la estabilidad del proceso durante la    etapa de arco, ni los voltajes medios de soldadura, para dar criterios del consumo    de potencia. De lo anterior, puede inferirse que la adquisici&oacute;n de se&ntilde;ales    el&eacute;ctricas aplicada al proceso de soldadura CMT permitir&iacute;a determinar    la estabilidad del arco el&eacute;ctrico, la potencia consumida y, a partir    de esta, los costos el&eacute;ctricos del proceso.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Pickin &#91;18&#93; ha estudiado    el ciclo de corriente del proceso CMT describiendo el efecto de las forma de    la onda&nbsp; de tensi&oacute;n en el comportamiento de la soldadura; sin embargo,    el proceso CMT est&aacute; formado por otras frecuencias mayores a las reportadas,    que acompa&ntilde;an fundamentalmente la fases de arco, que pueden ser modificadas    por los par&aacute;metros de correcci&oacute;n de arco y pulso. La variaci&oacute;n    de estas correcciones de longitud del arco el&eacute;ctrico y de pulso de corriente,    pudieran conducir a demandas diferentes de energ&iacute;a durante la soldadura.    La confluencia de estos aspectos produce particular inter&eacute;s y la forma    de constatarlo es a trav&eacute;s de un estudio de las se&ntilde;ales el&eacute;ctricas    del proceso de soldadura CMT.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El objetivo del presente trabajo es analizar la influencia del efecto de las correcciones de arco y de pulso, del proceso de soldadura con transferencia met&aacute;lica fr&iacute;a, sobre el oscilograma de voltaje en la etapa de arco el&eacute;ctrico durante la realizaci&oacute;n de uniones soldadas en aluminio 5083.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para ello, se realiza el censado y procesamiento de las se&ntilde;ales el&eacute;ctricas del arco de soldadura, evaluando los par&aacute;metros fundamentales de pico de reencendido, voltaje de soldadura y potencia, entre otros, en un dise&ntilde;o experimental factorial completo cuyos factores independientes lo constituyen las correcciones de arco, de pulso y la velocidad de soldadura en el proceso de soldadura CMT.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como resultado se obtiene una influencia directamente proporcional de las correcciones de longitud de arco y de pulso de corriente sobre la potencia consumida y la estabilidad del proceso de soldadura, mientras que el efecto de la velocidad de soldadura es inversamente proporcional.</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p>&nbsp;</p>    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><font size="3">MATERIALES</font></b>    <b><font size="3"> Y M&Eacute;TODOS</font></b> </font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El material base, en forma de    placas de 6 mil&iacute;metros (0,236 in) de espesor con tratamiento H321 (Ansi/Aws.    <i>Structural Welding Code &#45; Aluminium. Fourt Edition. AWS D1.2/1.2M.</i>    2008), empleado para la experimentaci&oacute;n lo constituye la aleaci&oacute;n    de<b> </b>aluminio al magnesio de media y baja resistencia 5083, relativamente    de buena soldabilidad y buenas resistencias a la corrosi&oacute;n y la fatiga.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para la evaluaci&oacute;n del    proceso CMT pulsado estudiado se emple&oacute; un dise&ntilde;o experimental    basado en un plan de tipo factorial multinivel con 3 factores independiente<b>s:    c</b>orrecci&oacute;n del arco (de &#45;30,0 a + 30 %); correcci&oacute;n de    pulso (de &#45;5,0 a + 5 %); velocidad de soldadura: (de 1,06 a 1,52 cm&#183;s<sup>&#45;1</sup>).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se garantizaron las mismas condiciones experimentales para todas las muestras estudiadas en el dise&ntilde;o experimental, a trav&eacute;s del dimensionamiento de los cupones de prueba, atendiendo a las recomendaciones del c&oacute;digo estructural de aluminio.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La instalaci&oacute;n experimental    (<a href="#f01">figura 1</a>) cuenta con una fuente GMAW&#45;Transferencia Met&aacute;lica    Fr&iacute;a o GMAW&#45;CMT, por sus siglas en ingl&eacute;s, modelo TPS5000    MV CMT y corriente pulsada, utilizada en producciones industriales e investigaciones    &#91;9&#93; y un osciloscopio digital (ADS1102CAL de 100MHz, 1Gs/S, 2CH, 7"    Color LCD), cuya sonda (canal 1) censa el voltaje durante el proceso (acoplada    a los terminales positivos y negativos de la fuente y del alimentador, respectivamente),    entregado por la m&aacute;quina sin&eacute;rgica para el proceso <i>Cold Metal    Transfer</i> (FRONIUS, modelo TPS5000 MV CMT), mientras que la se&ntilde;al    de corriente se adquiere a trav&eacute;s de una pinza de efecto <i>Holl</i>    (canal 2).</font></p>     <p align="center"><a name="f01"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/f0104216.jpg" width="305" height="280" alt="Fig. 1. Instalaci&oacute;n para el desplazamiento regulado de la antorcha CMT,  dise&ntilde;ada y fabricada por el autor (CIDTS) "></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El sistema construido para desplazar    la antorcha y obtener la uni&oacute;n soldada (<a href="#f01">figura 1</a>)    fue desarrollado por el autor del trabajo, en el Centro de Innovaci&oacute;n    y Desarrollo Tecnol&oacute;gico en Soldadura, A.C. de Nuevo Le&oacute;n, M&eacute;xico    (CIDTS) garantiza los niveles de repetitividad y reproducibilidad exigidos en    la planificaci&oacute;n experimental. Los par&aacute;metros del proceso de soldadura    se establecen seg&uacute;n especificaciones. Los par&aacute;metros de soldadura    empleados fueron: corriente de base, 248 A; voltaje de arco, 22 V; polaridad,    corriente directa electrodo positivo; di&aacute;metro de la boquilla, 12,7 mm;    tipo de gas: arg&oacute;n (100 %); flujo de gas, 15 L&#183;min<sup>&#45;1</sup>;    distancia de la boquilla a la pieza, 4 mm; velocidad de alimentaci&oacute;n    del alambre, 2,9 m&#183;min<sup>&#45;1</sup> y las variables consideradas en    el dise&ntilde;o experimental.</font></p>  	     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><font size="3">RESULTADOS</font></b></font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">A diferencia de los oscilogramas    referidos por la literatura sobre el proceso CMT (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>), los oscilogramas de voltaje obtenidos (<a href="#f03">figura 3</a>)    caracterizan el proceso de arco de una de las muestras de se&ntilde;ales estudiadas    (muestra 1). En el oscilograma se muestra (<a href="#f03">figura 3</a>) el ciclo    correspondiente al proceso de arco la onda de voltaje, particularmente caracter&iacute;stico    en frecuencias alrededor de los 140 kHz.</font></p>     <p align="center"><a name="f03"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/f0304216.jpg" width="388" height="214" alt="Fig. 3. Muestra gen&eacute;rica de oscilograma de las ondas de tensi&oacute;n de las variables experimentales"></p>  	     <p style='text&#45;align:justify'><font face="verdana" size="2">La onda de tensi&oacute;n    del proceso CMT pulsado empleado est&aacute; caracterizada por presentar dos    momentos (<a href="#f03">figura 3</a>): momento de aplicaci&oacute;n del pulso    de corriente y momento de mantenimiento de la corriente de base, durante la    fase de arco el&eacute;ctrico. En la onda de tensi&oacute;n se pueden distinguir    (<a href="#f03">figura 3</a>) diferentes valores de voltaje caracter&iacute;sticos,    estos son: Vip, Voltaje de pico asociado al inicio del pulso; Vpb, Voltaje de    pico asociado al inicio de la corriente base; Vmp, voltaje medio de pulso; Vmb,    voltaje medio de base.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las diferencias entre los valores    m&aacute;ximos de voltaje y las perturbaciones sufridas en el resto de su onda,    en cada corrida experimental (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0404216.jpg">figura    4</a> y <a href="/img/revistas/im/v19n2/f0504216.jpg">figura    5</a>), obtenidas de la aplicaci&oacute;n del dise&ntilde;o experimental descrito,    pudiera reflejar aspectos relativos a la estabilidad del proceso, como tambi&eacute;n,    sobre las potencias consumidas, lo que aportar&iacute;a elementos para evaluar    econ&oacute;micamente cada alternativa.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los oscilogramas mostrados (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0404216.jpg">figura    4</a>) permiten apreciar ciertas diferencias en cuanto al alto y ancho del pulso,    magnitud del voltaje del pulso y de la corriente de base, fundamentalmente.    Sin embargo, ello ha de demostrarse aplicando pruebas estad&iacute;sticas. De    forma similar ocurre entre los oscilogramas para velocidades de soldadura menores    (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0404216.jpg">figura 4</a>)    y entre ambas.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un an&aacute;lisis de los oscilogramas    obtenidos (formados por 20480 lecturas cada uno) durante la ejecuci&oacute;n    de las corridas (<a href="#f03">figuras 3</a> y <a href="/img/revistas/im/v19n2/f0404216.jpg">4</a>)    del dise&ntilde;o experimental permite compararlas estad&iacute;sticamente,    a partir de la aplicaci&oacute;n del procedimiento de comparaci&oacute;n de    varias muestras. La prueba de varianza demuestra que existe una diferencia estad&iacute;sticamente    significativa entre las medias de las 8 variables. La prueba de m&uacute;ltiples    rangos aplicada demuestra que los 27 pares muestran diferencias estad&iacute;sticamente    significativas. La prueba de verificaci&oacute;n de varianzas permite constatar    que existe una diferencia estad&iacute;sticamente significativa entre las desviaciones    est&aacute;ndar. La prueba de <i>Kruskal</i>&#45;<i>Wallis </i>muestra que existe    una diferencia estad&iacute;sticamente significativa entre las medianas. La    prueba de medianas de <i>Mood</i> declara que las medianas de las muestras son    significativamente diferentes.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La conjugaci&oacute;n de las    pruebas anteriores permite estimar que las muestras, correspondientes a los    oscilogramas obtenidos de la aplicaci&oacute;n del dise&ntilde;o experimental    son significativamente diferentes con un nivel de confianza del 95,0 %. Sin    embargo, no se conoce cu&aacute;les de los par&aacute;metros se&ntilde;alados    (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura 2</a>)    las hace diferentes. Para determinarlo, se realiza un procesamiento digital    de las ondas de tensi&oacute;n (<a href="#f03">figura 3</a> y <a href="/img/revistas/im/v19n2/f0404216.jpg">4</a>),    obteni&eacute;ndose los valores, que evidencian los puntos caracter&iacute;sticos    referidos (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>).</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La aplicaci&oacute;n de la prueba    de comparaci&oacute;n de varias muestras permite la obtenci&oacute;n de resultados,    de cada una de los voltajes representativos (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>) del ciclo pulsado de la onda CMT,y determinar la existencia de diferencias    significativas para cada uno de ellos, en las 8 muestras estudiadas. Las pruebas    de varianza, de las medianas de <i>Mood</i>, la de <i>Kruskall</i>&#45;<i>Wallis</i>    y la de m&uacute;ltiples rangos especifican que las muestras (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>) son diferentes significativamente con un 95 % de confianza para las funciones    respuestas voltaje de pico al inicio del pulso de corriente (Vip), voltaje de    pico al inicio de la corriente base (Vpb), voltaje medio del pico de corriente    (Vmp) y voltaje medio de la corriente base (Vmb). voltaje de pico al inicio    del pulso de corriente (Vip), voltaje de pico al inicio de la corriente base    (Vpb), voltaje medio del pico de corriente (Vmp) y voltaje medio de la corriente    base (Vmb).</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Otros par&aacute;metros, adem&aacute;s    de los voltajes, tambi&eacute;n pueden ser evaluados, tales como: Corriente    de Soldadura, Is (A); Potencia, P (W); Duraci&oacute;n del pulso, tp (s); Duraci&oacute;n    de la corriente base, tr (s); Duraci&oacute;n del pulso,tp (% del ciclo) y Duraci&oacute;n    de la corriente base, tr (% del ciclo).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La corriente no muestra una significancia estad&iacute;stica, despu&eacute;s de haber practicado las pruebas de varianza, medianas de <i>Mood</i>, <i>Kruskal&#45;Wallis</i> y de m&uacute;ltiples rangos. La no significancia estad&iacute;stica de la corriente prueba la eficacia del control sin&eacute;rgico de la m&aacute;quina, al mantenerla constante, como una variable no influyente en el proceso, tal como se planific&oacute;.</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los tiempos del semiciclo de    pulso (tp) se obtienen de la suma del tiempo transcurrido en cada ciclo donde    act&uacute;an los voltajes de pico de inicio del pulso (Vip) y el voltaje medio    de pico de corriente (Vmp) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>). Los tiempos del semiciclo base (tb) se obtienen de la suma del tiempo    transcurrido en cada ciclo donde act&uacute;an los voltajes de pico de inicio    la corriente base (Vpb) y el voltaje medio del ciclo base (Vmb) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0204216.jpg">figura    2</a>). Tanto los tiempos del ciclo de pulso (tp) como del ciclo base (tb),    s&iacute; manifiestan diferencias estad&iacute;sticas significativas, luego    de someterlos a pruebas de varianza, medianas de <i>Mood</i>, <i>Kruskal&#45;Wallis</i>    y de m&uacute;ltiples rangos. Esta variaci&oacute;n estad&iacute;sticamente    significativa pudiera estar dada por el efecto de los factores correcci&oacute;n    de longitud de arco, correcci&oacute;n de pulso de corriente y la velocidad    de soldadura, posiblemente al introducir modificaciones en la onda de tensi&oacute;n,    lo cual se requiere constatar a trav&eacute;s de su an&aacute;lisis en el dise&ntilde;o    experimental propuesto.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La potencia se calcul&oacute; como el producto instant&aacute;neo de la corriente y el voltaje en cada oscilograma. Los valores m&aacute;ximos y m&iacute;nimos de la potencia instant&aacute;nea calculada para cada variante, sometidos a una prueba de m&uacute;ltiples rangos evidencian que 27 de 28 de las combinaciones muestran diferencias estad&iacute;sticamente significativas con un nivel del 95,0 % de confianza. Adem&aacute;s, la prueba de medianas de <i>Mood</i> eval&uacute;a las medianas y, puesto que el valor&#45;P para la prueba de chi&#45;cuadrada es menor que 0,05, las medianas de las muestras son significativamente diferentes, con un nivel de confianza del 95,0 %. Con estos tres criterios estad&iacute;sticos puede afirmarse que la potencia consumida posee la variabilidad suficiente, entre los puntos experimentales, que se constituye en un par&aacute;metro robusto. La influencia de los factores independientes correcci&oacute;n de longitud de arco, correcci&oacute;n de pulso de corriente y la velocidad de soldadura sobre la potencia podr&iacute;a observarse aplicando el dise&ntilde;o experimental propuesto. Puede relacionarse el consumo de potencia el&eacute;ctrica de un proceso con su costo. La relaci&oacute;n de la potencia consumida con los factores experimentales pudiera permitir la vinculaci&oacute;n de estos con los costos el&eacute;ctricos del proceso. Este aspecto particular ser&aacute; tratado en un ep&iacute;grafe posterior.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Considerando los aspectos anteriores resulta importante comprobar que las diferencias estad&iacute;sticamente significativas demostradas, para cada uno de los par&aacute;metros evaluados, est&aacute;n dadas por la variaci&oacute;n de los factores independientes estudiados para el proceso CMT: correcci&oacute;n de la longitud del arco, correcci&oacute;n del pulso de corriente y velocidad de soldadura. Para ello, se precisa evaluar el dise&ntilde;&oacute; experimental planificado</font></p>  	     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><font size="3">DISCUSI&Oacute;N</font></b></font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los tres factores evaluados,    as&iacute; como sus tres combinaciones posibles (6 efectos) tienen significaci&oacute;n    estad&iacute;stica sobre el voltaje de pico al inicio del pulso (Vip) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6a</a>) y sobre la variaci&oacute;n del el voltaje medio del pulso (Vmp) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6b</a>).&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El estad&iacute;stico R&#45;Cuadrado    indica que el modelo ajustado explica el 76,98 % de la variabilidad en el voltaje    de pico al inicio del pulso (Vip) (<a href="#e01">ecuaci&oacute;n 1</a>) y 84,18    % de la variabilidad en el voltaje medio del pulso (Vmp) (<a href="#e02">ecuaci&oacute;n    2</a>).</font></p>     <p align="justify"><a name="e01"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0104216.jpg" width="553" height="32" alt="Ecuaci&oacute;n 1"></p>     <p align="justify"><a name="e02"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0204216.jpg" width="553" height="30" alt="Ecuaci&oacute;n 2"></p>  	     <p align="left" style='text&#45;align:left'><font face="verdana" size="2">Donde    CP es la correcci&oacute;n de pulso (%), CA es la correcci&oacute;n de arco    (%) y Vs es la velocidad de soldadura (cm&#183;s<sup>&#45;1</sup>) aplicadas.</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como proceso es sin&eacute;rgico, la m&aacute;quina CMT asocia la orden del crecimiento de las correcciones de arco y pulso como la necesidad de incrementar los valores de tensi&oacute;n en los pulsos, lo cual queda demostrado, a trav&eacute;s de las gr&aacute;ficas de los efectos principales y de Pareto, las que identifican a las correcciones de arco y de pulso como las m&aacute;s influyentes sobre el voltaje medio de pulso (Vmp).</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El diagrama de Pareto (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6</a>) identifica a las correcciones de arco y de pulso como las m&aacute;s    influyentes sobre el voltaje de pico al inicio del pulso (Vip). Es decir, analizando    la onda, un crecimiento en los valores asignados de las correcciones de arco    y de pulso traer&aacute; consigo un crecimiento del voltaje de pico al inicio    del pulso (Vip), redundando en un incremento de la tensi&oacute;n al inicio    de cada pulso. El crecimiento del voltaje medio de pulso (Vmp) conduce proporcionalmente    al incremento del voltaje de pico al inicio del pulso (Vip).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Luego, las correcciones de arco y de pulso incrementan de voltaje de pulso, tanto de pico (Vip) como medio (Vmp), lo que puede ser interpretado como un aumento de los requerimientos energ&eacute;ticos del proceso de soldadura, los cuales pueden corroborarse a trav&eacute;s de la potencia de soldadura. Ser&aacute; interesante, adem&aacute;s, evaluar el efecto del incremento de la tensi&oacute;n de pulso sobre la geometr&iacute;a y los defectos de las uniones.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La velocidad de soldadura (Vs) tiene un efecto negativo sobre ambos voltajes de pulso (Vip; Vmp), lo cual se puede corroborar en las gr&aacute;ficas de efectos principales y de Pareto, con mayor relevancia sobre el voltaje medio de pulso (Vmp). Este aspecto pudiera estar asociado a la diferencia entre las longitudes de arco establecidas para las condiciones de arco corto y arco largo. Un arco largo se establece, por ejemplo, entre la punta del electrodo y el centro de la poza del ba&ntilde;o de fusi&oacute;n; un arco corto, aquel que se establece entre la punta del electrodo y el frente de la poza de fusi&oacute;n, cercana al material base sin fundir. Cuando las velocidades de soldadura son altas, el arco se establece sobre el frente delantero de la poza de fusi&oacute;n disminuyendo su longitud. Se conoce que existe una relaci&oacute;n directa entre la longitud del arco y la tensi&oacute;n del mismo. Luego, para mayores velocidades de soldadura, el arco tiende a establecerse sobre el borde la poza de soldadura, disminuyendo su longitud y el voltaje asociado al pulso.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Sobre el voltaje medio de base    (Vmb) 5 efectos tienen influencia significativa (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6c</a>). El modelo (<a href="#e03">ecuaci&oacute;n 3</a>) explica 85,54 % de    la variabilidad del voltaje pico del semiciclo base (Vpb).</font></p>     <p align="justify"><a name="e03"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0304216.jpg" width="563" height="29" alt="Ecuaci&oacute;n 3"></p>  	     <p style='text&#45;align:justify'><font face="verdana" size="2">Donde CP es la    correcci&oacute;n de pulso (%), CA es la correcci&oacute;n de arco (%) y Vs    es la velocidad de soldadura (cm&#183;s<sup>&#45;1</sup>) aplicadas.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Parece evidente (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0504216.jpg">figura    5a</a>) que es m&aacute;s pronunciado el efecto de la velocidad de soldadura    sobre el acortamiento del arco y la disminuci&oacute;n de la tensi&oacute;n,    que el efecto del crecimiento del voltaje a costa de las correcciones de pulso    y arco, durante el semiciclo base (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6b</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Efectos similares se obtienen    al evaluar el voltaje medio de base (Vmb) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0604216.jpg">figura    6c</a>). La disminuci&oacute;n del voltaje (Vmb) respecto al crecimiento de    velocidad (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0704216.jpg">figura    7</a>), combinada con las correcciones, pudiera tener un efecto interesante    en el consumo de energ&iacute;a en el proceso, por cuanto disminuye el voltaje    aplicado, a la vez que incrementa la velocidad, es decir, menos potencia en    menor tiempo.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un an&aacute;lisis de varianza    practicado durante la evaluaci&oacute;n del tiempo de pulso (tp) prueba que    los 6 efectos ejercen una influencia significativa sobre este (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0804216.jpg">figura    8a</a>). Lo mismo acontece con el tiempo de base (tb) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0804216.jpg">figura    8a</a>) y la potencia (P) (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0804216.jpg">figura    8c</a>).</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para el tiempo de pulso (tp),    el estad&iacute;stico R&#45;Cuadrado indica que el modelo ajustado (<a href="#e04">ecuaci&oacute;n    4</a>), explica 99,53 % de su variabilidad, mientras que el modelo del tiempo    de base (tb), se explica (<a href="#e05">ecuaci&oacute;n 5</a>) en un 99,08    % y para la potencia (P) el modelo ajustado (<a href="#e06">ecuaci&oacute;n    6</a>) se explica en un 98,83 %.</font></p>     <p align="justify"><a name="e04"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0404216.jpg" width="539" height="27" alt="Ecuaci&oacute;n 4"></p>     <p align="justify"><a name="e05"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0504216.jpg" width="537" height="29" alt="Ecuaci&oacute;n 5"></p>     <p align="justify"><a name="e06"></a><img src="/img/revistas/im/v19n2/e0604216.jpg" width="436" height="46" alt="Ecuaci&oacute;n 6"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde CP es la correcci&oacute;n    de pulso (%), CA es la correcci&oacute;n de arco (%) y Vs es la velocidad de    soldadura (cm&#183;s<sup>&#45;1</sup>) aplicadas.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El tiempo de puso (tp) contiene los tiempos asociados a la duraci&oacute;n del pico de tensi&oacute;n del pulso m&aacute;s el intervalo durante el cual existe el pulso, hasta extinguirse, mientras que el tiempo de base (tb) o de no pulso incluye el tiempo consumido en el semiciclo donde se verifica el voltaje de pico del voltaje base (Vpb) m&aacute;s el tiempo durante el cual se verifica el voltaje de base medio (Vmb).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Luego, ambos par&aacute;metros constituyen los tiempos de los semiciclos de voltaje durante el pulso y durante el voltaje de base, que expresada en por ciento puede dar una idea de la prevalencia de una fase (pulso) respecto a otra (base) y, por tanto, c&oacute;mo son modificadas las relaciones de duraci&oacute;n de los tiempos de voltajes de pulso y de base, respecto a las modificaciones realizadas sobre las correcciones de arco, pulso y velocidad de soldadura.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se aprecia (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0804216.jpg">figura    8</a>) que todos los factores y sus combinaciones producen efectos significativos    sobre los tiempos de pulso (tp) y base (tb).</font></p>  	     <p style='text&#45;align:justify'><font face="verdana" size="2">Las correcciones    de arco y de pulso afectan la duraci&oacute;n de los semiciclos, presumiblemente    como parte del programa preconcebido de la m&aacute;quina CMT en ciclo pulsado;    sin embargo, resulta interesante observar el marcado efecto de la velocidad    de soldadura sobre dichos par&aacute;metros (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0904216.jpg">figura    9</a>); de forma negativa en el tiempo de pulso (tp), mientras que de forma    positiva en el tiempo base (tb).</font></p>     <p style='text&#45;indent:0in'><font face="verdana" size="2">Todos los factores    y sus combinaciones resultan estad&iacute;sticamente significativos sobre la    variaci&oacute;n de la potencia (<a href="/img/revistas/im/v19n2/f0904216.jpg">figura    9</a>). Evidentemente, todos modifican el voltaje en alguna medida, tanto en    el semiciclo voltaje de pulso, como en el de voltaje base.</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">La potencia determinada es funci&oacute;n    del voltaje observado en las etapas de pulso y de base, pudi&eacute;ndose expresar,    para cada instante (t<sub>(i)</sub>), como la multiplicaci&oacute;n de la corriente    (I<sub>(i)</sub>) por el voltaje instant&aacute;neos (V<sub>(i)</sub>). Esto    demuestra, como se plante&oacute; al evaluar el efecto de las correcciones sobre    los voltajes, que el aumento de las correcciones de arco y de pulso incrementan    de voltaje de pulso, tanto de pico (Vip) como medio (Vmp), lo que puede ser    interpretado como un aumento de los requerimientos energ&eacute;ticos del proceso    de soldadura, los cuales pueden corroborarse a trav&eacute;s de la potencia    de soldadura. El efecto de la disminuci&oacute;n de la potencia (P), a costa    de la velocidad de soldadura (Vs), se explic&oacute; al esclarecer el efecto    de la velocidad sobre los voltajes, defini&eacute;ndose el acortamiento del    arco (voltaje) con el incremento de la velocidad a costa del establecimiento    del arco sobre el borde de la zona de soldadura y no sobre la poza de soldadura.    Como se observa, el par&aacute;metro robusto lo constituye la potencia (P).    El incremento de la potencia pudiera producir cordones mucho m&aacute;s profundos    y viceversa.</font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Si bien se coincide con Ryka&#322;a    &#91;6&#93; en que el proceso CMT puede emplearse para aplicaciones con bajos    consumos de potencia, tambi&eacute;n se coincide con Dutra &#91;10&#93;, en    que los valores de consumo de potencia puede fluctuar, desde bajos, a relativamente    altos. En el presente trabajo se demuestra esta fluctuaci&oacute;n a partir    de las variaciones de las correcciones de arco y de pulso de corriente, para    el per&iacute;odo de arco el&eacute;ctrico al observar el comportamiento de    la onda de alta frecuencia para cada caso, coincidiendo con dicho autor en que,    a pesar de las diferencias encontradas en el comportamiento de las variantes    evaluadas, el proceso CMT constituye una alternativa viable y productiva para    la soldadura del aluminio.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Adem&aacute;s, no solo para la    forma del ciclo CMT puede variar el ciclo el&eacute;ctrico del proceso al soldar    diferentes aleaciones de aluminio, tal como plantea Sun y colaboradores &#91;8&#93;,    sino que puede ser modificado por las funciones de correcciones de longitud    de arco y de pulso de corriente, variando los valores de los aportes t&eacute;rmicos    del proceso y su estabilidad.</font></p>  	     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="3"><b>CONCLUSIONES</b></font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La funci&oacute;n correcci&oacute;n    de la longitud de arco y la funci&oacute;n correcci&oacute;n del puso de corriente,    tanto evaluadas separadamente como de forma conjunta, intensifican el efecto    del voltaje medio de arco de arco y el acortamiento de los ciclos de calentamiento,    respectivamente, lo que conduce a un aumento de los requerimientos energ&eacute;ticos    durante la etapa de arco el&eacute;ctrico del proceso de soldadura y una influencia    directa sobre la potencia consumida en el proceso CMT.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El crecimiento de la velocidad de soldadura establece el arco sobre el borde delantero de la poza de fusi&oacute;n, disminuyendo su longitud y la tensi&oacute;n del mismo, lo cual redunda en una disminuci&oacute;n de la potencia consumida en el proceso, produciendo un efecto inversamente proporcional de la velocidad de soldadura sobre la potencia consumida en el proceso CMT.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El efecto la velocidad es marcadamente mayor, que el efecto producido por el crecimiento combinado de las funciones de correcci&oacute;n de la longitud de arco y de correcci&oacute;n del puso de corriente, prevaleciendo el efecto inverso del incremento de la velocidad de soldadura sobre la longitud del arco y la potencia consumida en el proceso CMT; es decir, las modificaciones sobre el voltaje de arco que realiza la velocidad de soldadura es m&aacute;s significativa que las que realizan las correcciones de arco y de pulso sobre la potencia.</font></p>  	     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><font size="3">REFERENCIAS</font></b></font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">1. Talalaev R, Veinthal R, Laansoo    AY, et al. Cold metal transfer (CMT) welding of thin sheet metal products. Estonian    Journal of Engineering. 2012;18(3):243&#45;50.     ISSN 1736&#45;7522.&nbsp;DOI    10.3176/eng.2012.3.09</font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">2. Benoit A, Jobez S, Paillard    P, et al. Study of Inconel 718 weldability using MIG CMT process. Sci Technol    Weld Joining. 2011;16:477&#45;82.     ISSN 1362&#45;1718. DOI 10.1179/1362171811Y.0000000031.</font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">3. Cao J, Sun H, Chen JH, et    al. Weldability of CMT Joining of AA6061&#45;T6 to Boron Steels with Various    Coatings. Welding Journal. 2014;93(6):193&#45;204.     ISSN 0021&#45;4787. </font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">4. Cao R, Wen BF, Chen JH, et    al. Cold metal transfer joining of magnesium AZ31B&#45;to&#45;aluminum A6061&#45;T6.    Materials Science &amp; Engineering. 2013;560(66):256&#45;66.     ISSN 0921&#45;5093.&nbsp;DOI    10.1016/j.msea.2012.09.065</font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">5. Zhang C, Li G, Gao M, et al.    Microstructure and process characterization of laser&#45;cold metal transfer    hybrid welding of AA6061 aluminum alloy. The International Journal of Advanced    Manufacturing Technology. 2013;68:1253&#45;60.     ISSN 1433&#45;3015. DOI 10.1007/s00170&#45;013&#45;4916&#45;y</font></p>  	     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">6. Rykala JP, Tomas Z. Robotised    CMT welding of 6xxx series aluminium alloys. Biuletyn instytutu spawalnictwa.    2013;6(5):5&#45;11.     ISSN 2300&#45;1674. </font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">7. Feng JZ, He P. The CMT short&#45;circuiting    metal transfer process and its use in thin aluminium sheets welding. Materials    and Design. 2009;30(5):1850&#45;2.     ISSN 0264&#45;1275.DOI 10.1016/j.matdes.2008.07.015</font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">8. Sun Z, Taohui L, Binshi X,    et al. Investigation of dropled transfer behaviours in cold metal transfer (CMT)    process on welding Ti&#45;6Al&#45;4V alloy. International Journal of Advanced    Manufacturing Technology. 2015;80(9):2007&#45;14.     ISSN 1433&#45;3015. DOI 10.1007/s00170&#45;015&#45;7197&#45;9.</font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">9. Rykala J. Robotic welding    of thin wall components made of 6xxx and 2xxx series aluminium alloys using    low&#45;energy methods. Welding International. 2014;28(5):333&#45;8.     ISSN 0950&#45;7116.DOI    10.1080/09507116.2012.708486.</font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">10. Dutra JC, E. G, R&eacute;gis    Henrique S, et al. Caracter&iacute;sticas de fus&atilde;o e pot&ecirc;ncia de    soldagem com a transfer&ecirc;ncia MIG &#45; CMT versus MIG convencional para    Alum&iacute;nio 5183. Soldagem &amp; Inspe&#231;ao. 2013;18(1):012&#45;8.     ISSN    0104&#45;9224. DOI 10.1590/S0104&#45;92242013000100003.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">11. Benoit AP, Baudin T, Mottin    JB. Homogeneous welding of the 6061 aluminum alloy using MIG CMT. In: 9th International    Conference on Trends in Welding Research; Nantes (Francia), University of Nantes.        &#91;Citado 9 de diciembre de 2015&#93; Disponible en: <a href="http://www.linknovate.com/publication/homogeneous&#45;welding&#45;of&#45;the&#45;6061&#45;aluminum&#45;alloy&#45;using&#45;mig&#45;cmt&#45;406959/">http://www.linknovate.com/publication/homogeneous&#45;welding&#45;of&#45;the&#45;6061&#45;aluminum&#45;alloy&#45;using&#45;mig&#45;cmt&#45;406959/</a></font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">12. Gungor B, Kaluc E, Taban    E, et al. Mechanical and microstructural properties of robotic Cold Metal Transfer    (CMT) welded 5083&#45;H111 and 6082&#45;T651 aluminum alloys. Materials &amp;    Design. 2014;54:207&#45;11.     ISSN 0264&#45;1275. DOI http://dx.doi.org/10.1016/j.matdes.2013.08.018</font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">13. Fronius International CMT.    Cold Metal Transfer. Fronius International GmbH. 2010. &#91;Citado 14 de noviembre    del 2014&#93; Disponible en: <a href="http://www.fronius.com/cps/rde/xbcr/SID&#45;7FAB2945&#45;CCF14EE8/fronius_international/Folder_CMT_leaflet_ES_0114_aw19_low_44873_snapshot.pdf">http://www.fronius.com/cps/rde/xbcr/SID&#45;7FAB2945&#45;CCF14EE8/fronius_international/Folder_CMT_leaflet_ES_0114_aw19_low_44873_snapshot.pdf</a></font><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">14. Polak VY, Dostal P. Analysis    of modern methods in welding technology of technical materials. In: MENDELNET;    Czech Republic; 2013.    </font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">15. Meco S, Pardal G, Eder A,    et al. Software development for prediction of the weld bead in CMT and pulsed&#45;MAG    processes. Int J Adv Manuf Technol. 2013;64:171&#45;8.     ISSN 0268&#45;3768. DOI    10.1007/s00170&#45;012&#45;3990&#45;x.</font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="Verdana" size="2">16. Adonyi YR, Josef H, Derek    Bertiaume N. Real Time Detection for Short-Circuit Mode GMAW. In: FABTECH; Chicago    (EEUU), AWS; 2013.    </font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">17. Garc&iacute;a Rodr&iacute;guez    A. Energ&iacute;a de ionizaci&oacute;n simple en la soldadura con electrodo    revestido. Soldagem &amp; Inspe&#231;ao. 2013;18(1):72&#45;6.     ISSN 0104&#45;9224.    DOI <a href="http://dx.doi.org/10.1590/S0104&#45;92242013000100010">http://dx.doi.org/10.1590/S0104&#45;92242013000100010</a></font></p>  	     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">18. Pickin CG, Williams SW, Lunt    MY. Characterisation of the cold metal transfer (CMT) process and its application    for low dilution cladding. Journal of Materials Processing Technology. 2011;211(3):796&#45;502.        ISSN 0924&#45;0136. DOI <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jmatprotec.2010.11.005">http://dx.doi.org/10.1016/j.jmatprotec.2010.11.005</a>    &nbsp;&nbsp;</font></p>  	     <p>&nbsp;</p>     <p>&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Recibido: 15 de marzo de 2016.    <br>   Aceptado: 22 de abril de 2016.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Ren&eacute;&#45;Eduardo de&#45;luna&#45;Alan&iacute;s.    </i>Centro de Innovaci&oacute;n y Desarrollo Tecnol&oacute;gico en Soldadura.    Nuevo Le&oacute;n, M&eacute;xico    <br>   </font><font face="verdana" size="2">Correo electr&oacute;nico: <a href="mailto:rdeluna@relbac.com">rdeluna@relbac.com</a>    </font><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>      ]]></body><back>
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