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<journal-title><![CDATA[Ingeniería Energética]]></journal-title>
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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Evaluación dieléctrica de una subestación aislada en gas]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[In this paper, it is show that when the full phase of a GIS is evaluated, may occur failures in the GIS, which can damage the equipment of the test circuit. The GIS must be divided into sections that have the lowest capacitance possible to minimize the energy level during testing and reduce the risk of damages to the equipment of the test circuit. It should be considered that some sections may be submitted in more than one occasion to the maximum level of voltage. On another hand, the experience gained from the application of PD measurements during on-site commissioning test is shown. Measurements were carried out from the pre-stress voltages in order to detect and correct possible defects before applying the maximum voltage test.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="right"><font face="Verdana" size="2"><b>APLICACIONES INDUSTRIALES</b>  </font></p>    <p>&nbsp; </p>    <P><font face="Verdana" size="4"><b>Evaluaci&oacute;n diel&eacute;ctrica  de una subestaci&oacute;n aislada en gas</b></font><font face="Verdana" size="2">  </font>     <P>&nbsp;     <P>     <P><font face="Verdana" size="3"><b>On site commissioning test  of gas insulated substation</b></font>     <P>&nbsp;     <P>&nbsp;     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">  <b>MSc. Arturo Garc&iacute;a Tevillo,</b></font> <b><font face="Verdana" size="2">Ing.  Gabriel Garc&iacute;a Gaona, Ing. Valent&iacute;n Mart&iacute;nez Torres</font></b>      ]]></body>
<body><![CDATA[<p><font face="Verdana" size="2">Instituto de Investigaciones El&eacute;ctricas.  Palmira. Cuernavaca, Morelos, M&eacute;xico.</font>     <P>&nbsp;     <P><font face="Verdana" size="2">  </font> <hr>     <P>     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2"><b>RESUMEN</b></font>      <P>     <P><font face="Verdana" size="2">En este art&iacute;culo, se muestra que durante  la evaluaci&oacute;n diel&eacute;ctrica de la fase completa de una Subestaci&oacute;n  Aislada en Gas SF6 (GIS), se llegan a presentar fallas en la misma, que pueden  da&ntilde;ar los equipos del circuito de prueba. Se considera que la GIS debe  ser dividida en secciones con la menor capacitancia posible, para minimizar el  nivel de energ&iacute;a durante las pruebas y reducir el riesgo de da&ntilde;o  a los equipos de prueba. Se debe considerar que algunas secciones pueden ser sometidas  en m&aacute;s de una ocasi&oacute;n a la tensi&oacute;n de prueba. Por otro lado,  se muestra la experiencia ganada al incluir la medici&oacute;n de Descargas Parciales  (DP), durante las pruebas de aceptaci&oacute;n en sitio. Las mediciones se realizaron  desde las tensiones de pre-esfuerzo, para poder detectar y corregir posibles defectos,  antes de aplicar la tensi&oacute;n m&aacute;xima de prueba. </font>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font face="Verdana" size="2"><b>Palabras  clave:</b> descargas parciales, evaluaci&oacute;n diel&eacute;ctrica, GIS, pruebas  de aceptaci&oacute;n, resonante.</font> <hr>     <P><font size="2" face="Verdana"><b>ABSTRACT</b>  </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">In this paper, it is show that when  the full phase of a GIS is evaluated, may occur failures in the GIS, which can  damage the equipment of the test circuit. The GIS must be divided into sections  that have the lowest capacitance possible to minimize the energy level during  testing and reduce the risk of damages to the equipment of the test circuit. It  should be considered that some sections may be submitted in more than one occasion  to the maximum level of voltage. On another hand, the experience gained from the  application of PD measurements during on-site commissioning test is shown. Measurements  were carried out from the pre-stress voltages in order to detect and correct possible  defects before applying the maximum voltage test. </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2"><b>Key  words:</b> partial discharges, dielectric test, GIS, commissioning test, resonant.</font>  <hr>     <P>&nbsp;     <P><font face="Verdana" size="2"> </font>     <P>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font face="Verdana" size="3"><b>INTRODUCCI&Oacute;N</b></font>    <P>      <P><font face="Verdana" size="2">La confiabilidad de una GIS, depende en gran  medida de una correcta evaluaci&oacute;n diel&eacute;ctrica, despu&eacute;s de  su instalaci&oacute;n en sitio. La evaluaci&oacute;n tiene como objetivo detectar  los posibles defectos generados durante el ensamble, tales como: fracturas en  los aisladores estanco, contaminaci&oacute;n superficial de aisladores, part&iacute;culas  met&aacute;licas suspendidas en el gas SF6, entre otros. </font>     <P>     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2"><b>DESARROLLO</b>  </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La norma IEC 62271-203 indica que  una GIS, despu&eacute;s de su instalaci&oacute;n, debe ser evaluada con los siguientes  procedimientos [1]: </font>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;GIS menores de 230 kV, se deben evaluar con la prueba de potencial aplicado  con Corriente Alterna.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;GIS de 230 kV y mayores se deben evaluar con una prueba de potencial aplicado  con Corriente Alterna, complementada con una prueba de impulso o con la medici&oacute;n  de descargas parciales. </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La tensi&oacute;n  de prueba puede ser generada por un sistema resonante de frecuencia fija a 60  Hz e inductancia variable, el cual utiliza un transformador y un regulador para  controlar la tensi&oacute;n suministrada al transformador excitador. Tambi&eacute;n  se puede utilizar un sistema resonante de inductancia fija y una fuente de frecuencia  variable (de 10 a 300 Hz), para controlar la tensi&oacute;n suministrada al transformador  excitador. Generalmente la fuente opera con transistores de compuerta aislada  (IGBT's) controlados por Modulaci&oacute;n de Ancho de Pulso (PWM). En la <a href="#fig1">figura  1(a y b)</a>, se muestran los sistemas resonantes recomendados por la norma IEC  62271-203. </font>     <P align="center"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0106312.gif" width="405" height="511">  <a name="fig1"></a>     
<P>     <P>     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">El sistema  resonante tiene como objetivo igualar la reactancia inductiva del reactor con  la reactancia capacitiva de la muestra (condici&oacute;n de resonancia). En estas  condiciones, la alta capacitancia de la muestra queda cancelada y la tensi&oacute;n  de salida del transformador excitador se amplifica por el factor de calidad Q.  Primero, se aplican dos tensiones de pre-esfuerzo, como se observa en la <a href="#fig2">figura  2</a>, cuya magnitud y tiempo de aplicaci&oacute;n son determinadas por el fabricante.  Posteriormente, se aplica la tensi&oacute;n m&aacute;xima de prueba durante 1  minuto; 200 kV para una GIS de 115 kV, 380 kV para una GIS de 230 kV y 515 kV  para una GIS de 400 kV. Finalmente, la tensi&oacute;n se reduce a un valor de  1.2 Vn, para efectuar la medici&oacute;n de descargas parciales, donde Vn es la  tensi&oacute;n de fase a tierra. En la metodolog&iacute;a de prueba, el fabricante  y el usuario, de acuerdo con su experiencia, tienen que determinar lo siguiente:  </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226; &nbsp;Evaluar cada  fase en forma completa o dividir la GIS en secciones.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;Determinar la frecuencia m&iacute;nima y el nivel de la tensi&oacute;n de  prueba para los transformadores de potencial (TP's), sin que se supere su corriente  nominal de excitaci&oacute;n.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;Seleccionar el m&eacute;todo para la medici&oacute;n de descargas parciales  y los criterios de evaluaci&oacute;n. </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">En  este art&iacute;culo, se presentan algunas experiencias obtenidas durante la evaluaci&oacute;n  diel&eacute;ctrica de algunas GIS, las cuales pueden ser una referencia importante  para la toma de decisiones con respecto a la metodolog&iacute;a de prueba. </font>      <P>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0206312.gif" width="571" height="290"><a name="fig2"></a></font>      
<P align="center">&nbsp;     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P><font face="Verdana" size="2"><b>DIVISI&Oacute;N  DE LA GIS BAJO PRUEBA</b> </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">Durante  la evaluaci&oacute;n diel&eacute;ctrica de una GIS, se maneja un alto nivel de  energ&iacute;a. Cuando se eval&uacute;a a 515 kV, 60 Hz, una GIS con una capacitancia  de 24 nF/fase, la energ&iacute;a utilizada es mayor de 2 MVA. En el momento de  una falla, esta energ&iacute;a tiene que ser disipada. La norma IEC 62271-203  recomienda minimizar el nivel de energ&iacute;a durante la evaluaci&oacute;n de  una GIS. No obstante, en la pr&aacute;ctica es com&uacute;n tratar de realizar  la menor cantidad de pruebas posible; tres pruebas, una por cada fase. En el momento  en que ocurre una falla en la GIS, inmediatamente la tensi&oacute;n de prueba  se abate a 0 kV, debido a que se pierde la condici&oacute;n de resonancia. Por  otro lado, la corriente de falla es limitada por la reactancia del reactor a un  valor menor del 10 % de la corriente demandada por la carga a la tensi&oacute;n  m&aacute;xima de prueba [2]. Esto evita da&ntilde;os al equipo de alta tensi&oacute;n  del circuito de prueba y evita un da&ntilde;o mayor en la muestra. El apartarrayos,  colocado en las terminales del devanado secundario del transformador excitador  mostrado en la <a href="#fig1">figura 1</a>, drena a tierra la sobretensi&oacute;n  que se puede presentar en esta zona, en el momento de la falla en la GIS. Por  otro lado, en caso de que se presente un arco el&eacute;ctrico en SF6 [3], el  software de control registra los cambios diferenciales en la forma de onda de  la tensi&oacute;n de prueba y env&iacute;a una se&ntilde;al para abrir el interruptor  principal del equipo. </font>     <P><font face="Verdana" size="2">Esto impide la  generaci&oacute;n de un segundo arco, en caso de que se recupere el aislamiento  en el SF6 y la condici&oacute;n de resonancia. Una experiencia al respecto, se  registr&oacute; al evaluar la fase completa de una GIS de 400 kV de 24 nF/fase.  Se present&oacute; una falla a los 20 segundos de aplicar 515 kV, 60 Hz. Esta  falla da&ntilde;&oacute; el transformador elevador de 480/660 V, que alimentaba  al regulador del sistema resonante, tal como se muestra en la <a href="#fig3">figura  3</a>. Despu&eacute;s de reparar los da&ntilde;os en el transformador, la GIS  se dividi&oacute; en cuatro secciones del orden de 6 nF, con la finalidad de localizar  el sitio de la falla. Al energizar la primera secci&oacute;n, se volvi&oacute;  a presentar la falla a 515 kV. Sin embargo, como la energ&iacute;a se redujo de  2.4 a 0.6 MVA, la falla en la GIS ya no provoc&oacute; da&ntilde;os en el lado  de baja tensi&oacute;n del circuito de prueba. Las fallas diel&eacute;ctricas  en la GIS fueron provocadas por flameos sobre la superficie de un aislador estanco,  generado por part&iacute;culas met&aacute;licas atrapadas en un O-ring, ver la  <a href="#fig4">figura 4</a>. Otra experiencia al respecto, se present&oacute;  al evaluar una GIS de 230 kV de 5.03 nF/fase. Se present&oacute; una falla a los  5 segundos de aplicar 380 kV, 204.73 Hz. Esta falla da&ntilde;&oacute; un IGBT  en la fuente de frecuencia variable del sistema resonante, tal como se muestra  en la <a href="#fig5">figura 5</a>. Esta falla fue ocasionada por una part&iacute;cula  conductora suspendida en el gas SF6. </font>     <P>&nbsp;     <P>     <P>     <P>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0306312.jpg" width="437" height="340"><a name="fig3"></a></font>      
<P>     <P>     <P>     <P>     <P>     <P>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>&nbsp;     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0406312.jpg" width="484" height="396"></font>  <a name="fig4"></a>     
<P align="center">&nbsp;     <P align="center"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0506312.jpg" width="417" height="337">  <a name="fig5"></a>     
<P align="center">&nbsp;     <P>     <P>     <P>     <P>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P><font face="Verdana" size="2">  Otra experiencia al respecto, se registr&oacute; al evaluar la Fase A, de una  GIS de 115 kV, con 7 bah&iacute;as, un bus principal, un bus auxiliar y una bah&iacute;a  de amarre: </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226; &nbsp;La  fase completa present&oacute; una falla a los 40 s de aplicar 200 kV, 230 Hz.    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226; &nbsp;Se tuvo que seccionar  la GIS, para localizar el sitio de falla.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;Como se estaban realizando obras civiles alrededor del edificio de la GIS,  solo se ten&iacute;a acceso a las terminales SF6/aire de la Bah&iacute;a 4. Por  lo tanto, se evaluaron los siguientes arreglos: </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">&#9642;  &nbsp;Arreglo 1: Bah&iacute;a 4 + bus principal + Bah&iacute;a 5 + Bah&iacute;a  6.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&#9642; &nbsp;Arreglo 2: Bah&iacute;a  4 + bus auxiliar + Bah&iacute;a 3 + Bah&iacute;a de amarre.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&#9642;  &nbsp;Arreglo 3: Bah&iacute;a 4 + bus principal + Bah&iacute;a 6 + Bah&iacute;a  3. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P><font face="Verdana" size="2">Los arreglos 1, 2 y 3 soportaron  200 kV durante 1 minuto y no registraron actividad de descargas parciales. Finalmente,  se evalu&oacute; el arreglo 4; Bah&iacute;a 4 + bus auxiliar + Bah&iacute;a 1.  Este arreglo fall&oacute; al alcanzar los 155 kV. Despu&eacute;s de ubicar y reparar  la falla, el &uacute;ltimo arreglo fue evaluado nuevamente, soportando los 200  kV durante 1 minuto sin presentar fallas diel&eacute;ctricas. Al concluir los  trabajos, todas las bah&iacute;as de la fase 1, soportaron 200 kV de CA durante  1 minuto. Sin embargo, la Bah&iacute;a 4 fue sometida a la prueba de potencial  aplicado, en cuatro ocasiones. Si se considera el argumento de que una secci&oacute;n  no puede ser sometida en m&aacute;s de una ocasi&oacute;n a la tensi&oacute;n  de prueba, porque sus aislamientos se envejecen aceleradamente, todos los equipos  de la Bah&iacute;a 1 y de la Bah&iacute;a 4 de los dos ejemplos anteriores, hubiesen  sido rechazados. En cambio, las dos bah&iacute;as fueron aceptadas porque cumplieron  satisfactoriamente con la prueba de potencial aplicado. De acuerdo con lo anterior,  para minimizar la energ&iacute;a durante la evaluaci&oacute;n de una GIS y evitar  posibles da&ntilde;os a los equipos de prueba, el fabricante, el usuario y el  evaluador, deben acordar la divisi&oacute;n de la GIS bajo prueba, en secciones  que tengan la menor capacitancia posible. Asimismo, deben considerar que algunas  secciones pueden ser sometidas en m&aacute;s de una ocasi&oacute;n a la tensi&oacute;n  de prueba. </font>     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2"><b>EVALUACI&Oacute;N  DE TP'S</b> </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La tensi&oacute;n de  prueba de una GIS puede variar en el intervalo de 10 a 300 Hz. Sin embargo, cuando  los TP's se encuentran instalados en la GIS, la frecuencia de la tensi&oacute;n  de prueba queda limitada por la corriente de excitaci&oacute;n de los TP's, ver  la <a href="#e1">ecuaci&oacute;n (1)</a>: </font>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2">  <img src="/img/revistas/rie/v33n3/e0106312.gif" width="294" height="57"><a name="e1"></a></font>      
<P align="center">&nbsp;     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2"> &nbsp;Donde:    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;Iexc: Corriente de excitaci&oacute;n  nominal del TP.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;V: Tensi&oacute;n  aplicada en las terminales del TP.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;f:  Frecuencia de la tensi&oacute;n aplicada.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;L:  Inductancia del TP. </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">De la <a href="#e1">ecuaci&oacute;n  (1)</a>, se observa que al disminuir la frecuencia de la tensi&oacute;n de prueba,  se puede incrementar la corriente de excitaci&oacute;n de los TP's, hasta el punto  de poder da&ntilde;arlos. De acuerdo con esto, los TP's pueden complicar la realizaci&oacute;n  de las pruebas de una GIS. Una experiencia al respecto se registr&oacute; al evaluar  una GIS de 400 kV, con los TP's instalados. El fabricante de los TP's indic&oacute;  que para no exceder el valor nominal de su corriente de excitaci&oacute;n, la  tensi&oacute;n de prueba de 515 kV deb&iacute;a tener una frecuencia m&iacute;nima  de 120 Hz, o bien se pod&iacute;a aplicar una tensi&oacute;n m&aacute;xima de  440 kV a 60 Hz. Como solo se dispon&iacute;a de un sistema resonante de inductancia  variable y frecuencia de 60 Hz, la evaluaci&oacute;n de la GIS se tuvo que realizar  de la siguiente manera:</font>     <P><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;Primero, se desconectaron los TP's, lo cual represent&oacute; 3 d&iacute;as  de trabajo adicionales.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226;  &nbsp;La GIS, sin TP's, se evalu&oacute; con 515 kV a 60 Hz, aplicados durante  1 minuto.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226; &nbsp;Posteriormente,  se conectaron los TP's, invirtiendo otros 3 d&iacute;as de trabajo adicionales.    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&#8226; &nbsp;Finalmente, los  TP's fueron evaluados con 440 kV a 60 Hz, aplicados durante 1 minuto. </font>      <P>     <P><font face="Verdana" size="2">De acuerdo con lo anterior, es importante  considerar, desde la etapa de ensamble, si la GIS ser&aacute; evaluada con o sin  los TP's instalados. Esto se debe determinar en funci&oacute;n de los valores  de capacitancia/bah&iacute;a, en funci&oacute;n del valor m&iacute;nimo de la  frecuencia requerida para no superar la corriente de excitaci&oacute;n de los  TP's y en funci&oacute;n del intervalo de operaci&oacute;n del sistema resonante  disponible (intervalo de frecuencia e intervalo de inductancia). </font>     <P>     <P>      <P><font face="Verdana" size="2"><b>MEDICI&Oacute;N DE DESCARGAS PARCIALES</b>  </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La medici&oacute;n de descargas parciales  (DP), utilizando el m&eacute;todo convencional, es dif&iacute;cil de llevar a  cabo a una GIS, en sitio. Las interferencias radiadas y conducidas no pueden eliminarse  adecuadamente como se hace en el laboratorio, por lo que no se pueden obtener  sensibilidades menores de 5 pC. De acuerdo con esto, en el panorama mundial se  ha optado por utilizar m&eacute;todos de medici&oacute;n no convencionales. La  t&eacute;cnica en Ultra Alta Frecuencia (UHF) es utilizada [4-5]. Se utilizan  sensores capacitivos pre-instalados internamente en la GIS, ver <a href="#fig6">figura  6</a>. Actualmente, se cuenta con diferentes sistemas de monitoreo comerciales  que incluyen sensores y equipo de medici&oacute;n. Tambi&eacute;n los sensores  se pueden acoplar a un detector de DP de cualquier marca comercial, o a un analizador  de espectros. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P>     <P>     <P>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0606312.gif" width="343" height="291"><a name="fig6"></a></font>      
<P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La t&eacute;cnica UHF ha sido ampliamente  utilizada para el diagn&oacute;stico en l&iacute;nea de GIS. Se han establecido  correlaciones entre los patrones de DP medidos y los defectos que las generan.  En la <a href="#fig7a">figura 7 (a</a>, <a href="#fig7b">b</a>, <a href="#fig7c">c</a>),  se muestran algunos patrones de DP, que han sido reportados [6]. Para que la t&eacute;cnica  UHF sea utilizada como prueba de aceptaci&oacute;n o rechazo, para evaluar una  GIS despu&eacute;s de su instalaci&oacute;n en sitio, se tiene que realizar un  acuerdo previo entre el fabricante y el usuario. La t&eacute;cnica UHF no puede  ser calibrada con el m&eacute;todo normalizado, inyectando un pulso conocido entre  las terminales de un capacitor de bloqueo [7]. Solo se puede verificar la sensibilidad  de los sensores inyectando un pulso conocido a trav&eacute;s de uno de ellos y  registr&aacute;ndolo en los sensores cercanos [1]. Por esta raz&oacute;n, la norma  IEC 62271-203 no establece ning&uacute;n criterio de aceptaci&oacute;n o rechazo  basado en m&eacute;todos no convencionales, solo indica que los resultados tienen  que ser interpretados por personal experimentado. </font>     <P>&nbsp;     ]]></body>
<body><![CDATA[<P align="center"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/fa706312.jpg" width="454" height="277">  <a name="fig7a"></a>     
<P>     <P>     <P>&nbsp;     <P align="center"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/fb706312.jpg" width="442" height="277">  <a name="fig7b"></a>     
<P>     <P>     <P>&nbsp;     <P>     <P>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/fc706312.jpg" width="485" height="277"></font>  <a name="fig7c"></a>     
<P align="center">&nbsp;     <P>     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">Una  experiencia al respecto, se registr&oacute; al evaluar una GIS de 400 kV, con  TP's instalados, la cual estaba instrumentada con sensores capacitivos pre-instalados.  Cada bah&iacute;a ten&iacute;a dos sensores por fase, tal como se muestra en la  <a href="#fig8">figura 8</a>. La GIS tambi&eacute;n contaba con el sistema PD  Monitoring System-RCC1, de la marca DMS System, para la medici&oacute;n de DP.  </font>     <P>     <P>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0806312.gif" width="316" height="342"></font>  <a name="fig8"></a>     
]]></body>
<body><![CDATA[<P>     <P><font face="Verdana" size="2">La GIS bajo prueba, se  dividi&oacute; en 5 secciones para su evaluaci&oacute;n. Cada secci&oacute;n inclu&iacute;a  dos bah&iacute;as y un bus, con una capacitancia del orden de 4.8 nF. Al evaluar  la secci&oacute;n 1, se present&oacute; una falla a 515 kV, 90 Hz. Esta falla  ocasion&oacute; da&ntilde;os en la etapa de potencia de la fuente de frecuencia  variable. Al abrir el m&oacute;dulo da&ntilde;ado, se encontr&oacute; que la falla  hab&iacute;a sido causada por part&iacute;culas de material desecante que se escaparon  de su recipiente de contenci&oacute;n, durante el ensamble de la GIS y se depositaron  sobre un aislador estanco, ver la <a href="#fig9">figura 9</a>. El aislador tuvo  que ser sustituido, mientras que la fuente de frecuencia variable tuvo que ser  reparada. Esto implic&oacute; tres d&iacute;as de trabajos adicionales. </font>      <P>     <P>     <P align="center"><font face="Verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rie/v33n3/f0906312.gif" width="386" height="304"></font>  <a name="fig9"></a>     
<P>     <P><font face="Verdana" size="2">Para evitar que otro  aislador resultara da&ntilde;ado y pudiera ocurrir una segunda falla en la fuente  de frecuencia variable, se acord&oacute; el siguiente procedimiento de prueba:  </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;1. Verificar la  sensibilidad del sistema de medici&oacute;n, inyectando un pulso de 50 pC en uno  de los sensores de la secci&oacute;n bajo prueba y verificar que &nbsp;este pulso  se pudiera medir en los dem&aacute;s sensores, de la misma secci&oacute;n bajo  prueba.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;2. Medir el  nivel de DP a la primera tensi&oacute;n de pre-esfuerzo.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;3.  Medir el nivel de DP a la segunda tensi&oacute;n de pre-esfuerzo.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;3.1  Si se detectan DP abrir el m&oacute;dulo con posibles defectos y realizar los  trabajos necesarios para eliminarlos.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;3.2  Si no se detectan DP realizar el paso 5.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;4.  Despu&eacute;s de los trabajos correctivos repetir los pasos 2 y 3.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;4.1  Si se vuelven a registrar DP se repiten los pasos 3.1 y 4 hasta cumplir con el  paso 4.2.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;4.2 Si ya no se  detectan DP, se realiza el paso 5.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;5.  Aplicar la tensi&oacute;n m&aacute;xima de prueba.    <br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;5.1  Si la secci&oacute;n soporta la tensi&oacute;n de prueba, se realiza el paso 6.    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;5.2 Si la secci&oacute;n falla  durante la prueba, corregir la falla y repetir todo el proceso de evaluaci&oacute;n.    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;&nbsp;6. Descender la tensi&oacute;n  a 1.2 Vn y efectuar la medici&oacute;n de DP.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;6.1  Si la secci&oacute;n evaluada soporta la prueba de potencial aplicado y no registra  DP a 1.2 Vn, se considera que sus condiciones diel&eacute;ctricas son &nbsp;&nbsp;aceptables.    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">&nbsp;&nbsp;6.2 En caso de que se registren  DP a 1.2 Vn se repiten los pasos 3.1, 4 y 6 hasta que la secci&oacute;n evaluada  quede libre de descargas parciales. </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">La  secci&oacute;n 1, despu&eacute;s de la reparaci&oacute;n de la falla, cumpli&oacute;  satisfactoriamente con la prueba de potencial aplicado sin registrar actividad  de descargas parciales durante las dos tensiones de </font><font face="Verdana" size="2">pre-esfuerzo  y a 1.2 Vn. Al evaluar la secci&oacute;n 2, el sensor 2 registr&oacute; DP en  los pasos 2 y 3, present&oacute; el patr&oacute;n de DP correspondiente a part&iacute;culas  el&eacute;ctricamente &quot;flotadas&quot;, ver <a href="#fig7c">figura 7c</a>.  Al abrir la secci&oacute;n entre el interruptor, Q1 y Q2 se encontraron part&iacute;culas  del material desecante del filtro de humedad, depositadas sobre un aislador estanco.  Estas part&iacute;culas generaban DP al verse sometidas a una concentraci&oacute;n  mayor de campo el&eacute;ctrico por la diferencia de permitividades con respecto  al resto de los materiales involucrados (SF6, resina, al&uacute;mina). Este defecto  fue eliminado con un proceso de limpieza. Posteriormente, la secci&oacute;n 2  soport&oacute; la prueba de potencial aplicado, sin registrar DP a 1.2 Vn. La  secci&oacute;n 3 cumpli&oacute; con el proceso de evaluaci&oacute;n sin mayores  problemas. Sin embargo, la secci&oacute;n 4 present&oacute; el mismo comportamiento  que la secci&oacute;n 2. Despu&eacute;s de corregir el defecto, la secci&oacute;n  4 soport&oacute; la prueba de potencial aplicado, sin registrar DP a 1.2 Vn. La  secci&oacute;n 5 no registr&oacute; actividad de DP en las dos tensiones de pre-esfuerzo.  La actividad de DP se present&oacute; hasta la tensi&oacute;n de prueba. </font><font face="Verdana" size="2">Se  registr&oacute; el patr&oacute;n que se muestra en la <a href="#fig7c">figura  7c</a>. La secci&oacute;n 5 soport&oacute; 515 kV durante 1 minuto. Sin embargo,  al descender la tensi&oacute;n de prueba a 1.2 Vn, la actividad de DP se mantuvo.  Se tuvo que ubicar el m&oacute;dulo con el defecto, abrirlo y realizar trabajos  de limpieza y apriete de conexiones. Al concluir los trabajos correctivos, la  secci&oacute;n 5 fue evaluada con los pasos 3.1, 4 y 6, sin que se registrara  actividad de DP a 1.2 Vn. De acuerdo con lo anterior, la medici&oacute;n de DP  fue fundamental en la evaluaci&oacute;n de la GIS. La aplicaci&oacute;n de la  t&eacute;cnica permiti&oacute; detectar defectos que se hab&iacute;an generado  durante el proceso de ensamble. La detecci&oacute;n de estos defectos, antes de  aplicar la tensi&oacute;n m&aacute;xima de prueba, evit&oacute; posibles da&ntilde;os  superficiales a los aisladores estanco. Tambi&eacute;n evit&oacute; que la fuente  de frecuencia variable, del sistema resonante, sufriera da&ntilde;os ocasionados  por las posibles fallas en las secciones bajo prueba. </font>     <P>&nbsp;     <P>     <P>     <P><font face="Verdana" size="3"><b>CONCLUSIONES</b>  </font>     <P>     <P><font face="Verdana" size="2">De acuerdo con las experiencias obtenidas  en la evaluaci&oacute;n de GIS, se considera que es importante minimizar la energ&iacute;a  que se requiera durante la prueba de potencial aplicado. Esto con la finalidad  de evitar posibles da&ntilde;os a los equipos de prueba, en caso de que se presente  una falla en el objeto bajo prueba. La GIS bajo prueba debe ser dividida en secciones  que tengan la menor capacitancia posible. Se debe considerar que algunas secciones  pueden ser sometidas en m&aacute;s de una ocasi&oacute;n a la tensi&oacute;n de  prueba. Tambi&eacute;n es importante conocer las caracter&iacute;sticas de los  TP's: su corriente nominal de excitaci&oacute;n, la tensi&oacute;n m&aacute;xima  a la que pueden ser energizados a 60 Hz o la frecuencia m&iacute;nima a la que  pueden ser energizados a la tensi&oacute;n de prueba, sin exceder su corriente  de excitaci&oacute;n, as&iacute; como la inductancia de su devanado de alta tensi&oacute;n.  Esta informaci&oacute;n determinar&aacute; la forma en que deben ser evaluados  los TP's, en funci&oacute;n del intervalo de operaci&oacute;n del sistema resonante  que se tenga disponible (intervalo de frecuencia e inductancia). Finalmente, es  importante incluir la medici&oacute;n de descargas parciales con m&eacute;todos  el&eacute;ctricos no convencionales, como parte de las pruebas de aceptaci&oacute;n  o rechazo. Aunque no se cuente con un m&eacute;todo de calibraci&oacute;n normalizado,  se puede acordar previamente que una secci&oacute;n bajo prueba puede ser rechazada  si presenta actividad de descargas a la sensibilidad que se pueda obtener en sitio,  con los sensores y el equipo de detecci&oacute;n utilizado. </font>     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>&nbsp;     <P>     <P>      <P><font face="Verdana" size="3"><b>REFERENCIAS</b></font><font face="Verdana" size="2">  </font>     <P>&nbsp;     <P>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">1. IEC., &quot;Gas-insulated  metal-enclosed switchgear for rated voltages above 52 kV: High-voltage switchgear  and controlgear&quot;. 62271-203. First Edition, Switzerland: IEC, 2003.     </font>      <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">2. AC Resonant Test Systems. Cat&aacute;logo  de sistemas resonantes, [consulta: 7 de julio 2011], Disponible en:<a href="http://www.phenixtech.com/Resonant_Test%20_Systems%20.asp" TARGET="_blank">  http://www.phenixtech.com/Resonant_Test _Systems .asp</a> </font>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">3.  Fujimoto, N., et al., &quot;Transient ground potential rise in gas insulated substations  - experimental studies&quot;. IEEE Transactions on Power Apparatus and Systems.  1982, vol.PAS-101, n.10, p. 3603-3609, ISSN 0885-8950.     </font>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">4.  Buesch W., et al., &quot;Application of partial discharge diagnostics in GIS at  on-site commissioning tests&quot;. CIGRE Session, 1998, p. 15-104.     </font>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">5.  Bell Raymond, et al., &quot;High-voltage onsite commissioning test for gas-insulated  substations using UHF partial discharge detection&quot;. IEEE Transactions on  Power Delivery. 2003, vol.18, n.4, </font> <font face="Verdana" size="2">p.1187-1191,  ISSN 08858977.     </font>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">6. Yoon, K.T., &quot;Further  results of the partial discharge monitoring system at Labrador and Ayer Rajah  400 kV GIS substations.&quot; [en l&iacute;nea]. Behrmann G.J, Pietsch R, Pearson  J. Disponible en: <a href="http://www.marubun.co.jp/product/measurement/electric/qgc18e000000isvoatt/dms_6.pdf" TARGET="_blank">http://www.marubun.co.jp/product/measurement/electric/qgc18e000000isvoatt/dms_6.pdf</a>.      </font>     <!-- ref --><P><font face="Verdana" size="2">7. IEC., &quot;High-voltage test techniques-  Partial discharges measurements&quot;. 60270. 3ra Edition, Switzerland: IEC, 2000.      </font>     <P>&nbsp;     ]]></body>
<body><![CDATA[<P>&nbsp;     <P><font face="Verdana" size="2">Recibido: Noviembre del 2011    <br>  </font><font face="Verdana" size="2">Aprobado: Abril del 2012 </font>     <P>&nbsp;     <P>&nbsp;      <P><font face="Verdana" size="2">Arturo Garc&iacute;a Tevillo. </font><font face="Verdana" size="2">Ingeniero  el&eacute;ctrico, M&aacute;ster en Ciencias, Instituto de Investigaciones El&eacute;ctricas.  Palmira. Cuernavaca, Morelos, M&eacute;xico. </font>     <br> <font face="Verdana" size="2">e-mail:  <a href="mailto:tevillo@iie.org.mx">tevillo@iie.org.mx</a></font>       ]]></body><back>
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